发明名称 制造半导体装置之方法
摘要 本发明揭示一种制造一半导体装置之方法,其包含在一第一膜上形成一光阻图案;将该光阻图案用作一光罩而将增加该第一膜之一蚀刻速率的一预定掺杂物植入于该第一膜中,从而在该第一膜中形成一植入层;并且将光阻图案用作一光罩来蚀刻该第一膜之一第一部分,其系该植入层的至少一部分。
申请公布号 TW200816274 申请公布日期 2008.04.01
申请号 TW096128451 申请日期 2007.08.02
申请人 东芝股份有限公司 发明人 菊谷圭介
分类号 H01L21/027(2006.01) 主分类号 H01L21/027(2006.01)
代理机构 代理人 陈长文
主权项
地址 日本