发明名称 一种具有部分高掺杂沟道4H-SiC金半场效应管
摘要 本发明属于场效应晶体管技术领域,特别是公开了一种具有部分高掺杂沟道4H‑SiC金半场效应管;旨在提供能够提高输出电流和器件跨导,改善频率特性的一种具有部分高掺杂沟道4H‑SiC金半场效应管;采用的技术方案为:自下而上设置有4H‑SiC半绝缘衬底、P型缓冲层、N型沟道层,N型沟道层的两侧分别设置有源极帽层和漏极帽层,N型沟道层中部且靠近源极帽层的一侧设置有栅区域,栅区域在N型沟道两侧形成左侧沟道凹陷区和右侧沟道凹陷区,左侧沟道凹陷区和右侧沟道凹陷区的深度为0.05‑0.1μm,左侧沟道的宽度为0.5μm,右侧沟道的宽度为1μm,在左侧沟道凹陷区正下方区域为具有高掺杂浓度的沟道高掺杂区域。
申请公布号 CN105789282A 申请公布日期 2016.07.20
申请号 CN201610256739.8 申请日期 2016.04.22
申请人 西安电子科技大学 发明人 贾护军;杨志辉;马培苗;杨银堂
分类号 H01L29/49(2006.01)I 主分类号 H01L29/49(2006.01)I
代理机构 北京世誉鑫诚专利代理事务所(普通合伙) 11368 代理人 郭官厚
主权项 一种具有部分高掺杂沟道4H‑SiC金半场效应管,其特征在于,自下而上设置有4H‑SiC半绝缘衬底(1)、P型缓冲层(2)、N型沟道层(3),N型沟道层(3)的两侧分别设置有源极帽层(4)和漏极帽层(5),所述源极帽层(4)和漏极帽层(5)的表面分别设置有源电极(6)和漏电极(7),N型沟道层(3)中部且靠近源极帽层(4)的一侧设置有栅区域(10),栅区域(10)在N型沟道层(3)两侧形成左侧沟道凹陷区(8)和右侧沟道凹陷区(9),左侧沟道凹陷区(8)正下方区域为具有高掺杂浓度的沟道高掺杂区域(11)。
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