发明名称 |
一种通过改变辐射源类型研究电磁场探头微扰动性的方法 |
摘要 |
本发明一种通过改变辐射源类型研究探头微扰动性的方法:1:获取不同类型的辐射源的电磁场探头测试电磁场强度矩阵F<sub>i</sub>;2:利用仿真软件对辐射源在观察平面P<sub>z</sub>上的电磁场分布进行有探头情况下的仿真,获取有探头情况下仿真电磁场强度矩阵F<sub>i</sub><sup>eh1</sup>;3:对比矩阵F<sub>i</sub>和F<sub>i</sub><sup>eh1</sup>,确定仿真模型。4:利用仿真软件对辐射源在观察平面P<sub>z</sub>上的电磁场分布进行无探头情况下的仿真,获取无探头情况下仿真电磁场强度矩阵F<sub>i</sub><sup>eh0</sup>。5:对比矩阵F<sub>i</sub><sup>eh1</sup>和F<sub>i</sub><sup>eh0</sup>;两组电磁场强度对比的差值是对测试数据进行修正的重要依据。本发明得到的数据可对工程中电磁场探头测试的数据进行修正,提高电磁场探头测试结果的可信度,保证仿真过程中建模的准确度,保证结果数据只受到是否存在探头的影响。 |
申请公布号 |
CN106053965A |
申请公布日期 |
2016.10.26 |
申请号 |
CN201610537802.5 |
申请日期 |
2016.07.08 |
申请人 |
北京航空航天大学 |
发明人 |
阎照文;刘伟;李兵;苏东林 |
分类号 |
G01R29/08(2006.01)I;G01R35/00(2006.01)I |
主分类号 |
G01R29/08(2006.01)I |
代理机构 |
北京慧泉知识产权代理有限公司 11232 |
代理人 |
王顺荣;唐爱华 |
主权项 |
一种通过改变辐射源类型研究探头微扰动性的方法,其特征在于,该方法包括有以下步骤:第一步:获取电磁场探头测试电磁场强度矩阵F<sub>i</sub>:设置不同类型的辐射源,在观察平面P<sub>z</sub>上随机选取M个观察点进行测量,测量得到电磁场辐射强度按照先后顺序用矩阵F<sub>i</sub>(i=1,2,…)表示,其中i表示第i种辐射源被探头测得的场强度,该矩阵有1×M个元素;第二步:获取有探头情况下仿真电磁场强度矩阵F<sub>i</sub><sup>eh1</sup>:利用仿真软件对辐射源在观察平面P<sub>z</sub>上的电磁场分布进行有探头情况下的仿真,观察点的位置和选择顺序与第一步中观察点的位置和选择顺序是一致的,得到辐射强度矩阵F<sub>i</sub><sup>eh1</sup>,其中上标eh1表示有探头情况下的仿真结果,下标i表示不同类型的辐射源,该矩阵有1×M个元素;第三步:对比矩阵F<sub>i</sub>和F<sub>i</sub><sup>eh1</sup>:通过对比F<sub>i</sub>和F<sub>i</sub><sup>eh1</sup>进行判断仿真建模的拟合程度,确定仿真模型;第四步:获取无探头情况下仿真电磁场强度矩阵F<sub>i</sub><sup>eh0</sup>:利用仿真软件对辐射源在观察平面P<sub>z</sub>上的电磁场分布进行无探头情况下的仿真,观察点的位置和选择顺序与第一步中观察点的位置和选择顺序是一致的,得到辐射强度矩阵F<sub>i</sub><sup>eh0</sup>,其中上标eh0表示无探头情况下的仿真结果,下标i表示不同类型的辐射源,该矩阵有1×M个元素;第五步:对比矩阵F<sub>i</sub><sup>eh1</sup>和F<sub>i</sub><sup>eh0</sup>:通过对比对F<sub>i</sub><sup>eh1</sup>和F<sub>i</sub><sup>eh0</sup>可以得到第i种辐射源的电磁场分布由于电磁场探头的引入而产生的微扰,两组电磁场强度对比的差值是对测试数据进行修正的重要依据。 |
地址 |
100191 北京市海淀区学院路37号 |