| 发明名称 |
METHOD AND INSTRUMENT FOR MEASURING FLATNESS |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPH10141933(A) |
申请公布日期 |
1998.05.29 |
| 申请号 |
JP19960315402 |
申请日期 |
1996.11.11 |
| 申请人 |
KAO CORP |
发明人 |
HASHIMOTO RYOICHI;OTANI MASASHI;INATOME HIROSHI |
| 分类号 |
G01B11/26;G01B11/30;(IPC1-7):G01B11/30 |
主分类号 |
G01B11/26 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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