| 摘要 |
본 고안은 검사용 탐침부재에 대한 것으로서, 더욱 상세하게는 적어도 일부가 통형 몸체 내에 삽입되고 상단이 반도체 디바이스의 단자와 접촉되는 검사용 탐침부재로서, 반도체 디바이스의 단자와 접촉되는 뾰족한 제1선단이 상단에 마련되어 있는 산형의 제1탐침부와, 상기 제1탐침부로부터 하측으로 연장되며 상기 통형 몸체 내에 삽입되어 상기 통형 몸체에 결합되는 제1결합부를 포함하는 제1탐침판과, 상기 반도체 디바이스의 단자와 접촉되는 뾰족한 제2선단이 상단에 마련되어 있는 산형의 제2탐침부와, 상기 제2탐침부로부터 하측으로 연장되며 상기 통형 몸체 내에 삽입되어 상기 통형 몸체에 결합되는 제2결합부를 포함하는 제2탐침판을 포함하되, 상기 제1탐침판과 제2탐침판은, 제1탐침과 제2탐침이 서로 엇갈린 상태에서 일체로 결합되는 검사용 탐침부재에 대한 것이다. |
