发明名称 |
一种采用L‑MBE和MOCVD技术在Si衬底上生长的LED外延片及其制备方法 |
摘要 |
本发明公开了一种采用L‑MBE和MOCVD技术在Si衬底上生长的LED外延片,包括Si衬底以及在Si衬底上依次生长的单晶Al薄膜、AlGaN缓冲层、n‑GaN层、InGaN/GaN MQWs量子阱层以及p‑GaN层;自单晶Al薄膜向n‑GaN层的方向,AlGaN缓冲层中Al组分的含量逐渐降低;所述单晶Al薄膜是采用L‑MBE方法生长的,所述AlGaN缓冲层、n‑GaN层、InGaN/GaN MQWs量子阱层和p‑GaN层是采用MOCVD方法生长的。发明还公开了该LED外延片的制备方法。本发明制备的LED外延片,晶体质量高,缺陷密度低,具有优异的电学和光学性质。 |
申请公布号 |
CN106169523A |
申请公布日期 |
2016.11.30 |
申请号 |
CN201610557494.2 |
申请日期 |
2016.07.12 |
申请人 |
河源市众拓光电科技有限公司 |
发明人 |
李国强 |
分类号 |
H01L33/00(2010.01)I;H01L33/02(2010.01)I |
主分类号 |
H01L33/00(2010.01)I |
代理机构 |
广州市越秀区哲力专利商标事务所(普通合伙) 44288 |
代理人 |
陈振楔 |
主权项 |
一种采用L‑MBE和MOCVD技术在Si衬底上生长的LED外延片,其特征在于:包括Si衬底以及在Si衬底上依次生长的单晶Al薄膜、AlGaN缓冲层、n‑GaN层、InGaN/GaN MQWs量子阱层以及p‑GaN层;自单晶Al薄膜向n‑GaN层的方向,AlGaN缓冲层中Al组分的含量逐渐降低;所述单晶Al薄膜是采用L‑MBE方法生长的,所述AlGaN缓冲层、n‑GaN层、InGaN/GaN MQWs量子阱层和p‑GaN层是采用MOCVD方法生长的。 |
地址 |
517000 广东省河源市高新技术开发区兴业大道东边、高新一路创业服务中心三楼317室 |