发明名称 基于扫描被测电子设备位置的IP地址设定方法及系统
摘要 本发明涉及一种基于扫描被测电子设备位置的IP地址设定方法及系统,其包括如下步骤:(a)将被测电子设备放入测试柜使常开开关S<sub>ij</sub>闭合;(b)测试柜控制器对常开开关S<sub>ij</sub>的通断状态进行扫描,并通过通断状态对被测电子设备进行位置号识别和标记;(c)运行上位机测试程序;(d)上位机发出获取被测电子设备IP地址指令;(e)测试柜控制器收到上位机发出的获取IP地址命令,依据位置编号分配被测电子设备的IP地址;(f)测试柜控制器将所有被测电子设备的IP=m+j+i发送给上位机;(g)上位机依据获取的IP地址建立被测电子设备的测试数据库,具有结构简单、可靠性高,实用性强等特点;可有快速、有效解决IP地址与位置编号不一致的问题,为设备组网地址分配领域提供了一种新的方案。
申请公布号 CN106093632A 申请公布日期 2016.11.09
申请号 CN201610392623.7 申请日期 2016.06.03
申请人 温州大学 发明人 彭志辉;李凯;张健;刘文文;华;钟蓉
分类号 G01R31/00(2006.01)I 主分类号 G01R31/00(2006.01)I
代理机构 温州金瓯专利事务所(普通合伙) 33237 代理人 林益建
主权项 一种基于扫描被测电子设备位置的IP地址设定方法,其特征在于:其包括如下步骤:(a)将被测电子设备放入测试柜,所述被测电子设备使常开开关S<sub>ij</sub>闭合,并正确接好连线;(b)测试柜控制器通过运行定时扫描程序对放入测试柜的被测电子设备对应的常开开关S<sub>ij</sub>的通断状态进行扫描,并通过通断状态对被测电子设备进行位置号识别和标记;(c)所有电子设备放置完毕之后,运行上位机测试程序;(d)上位机发出获取被测电子设备IP地址指令;(e)测试柜控制器收到上位机发出的获取IP地址命令之后,依据以获得的测试柜中被测电子设备放置的位置编号,按照行号从小到大,列位置编号从小到大的原则分配被测电子设备的IP地址;(f)测试柜控制器将所有被测电子设备的IP=m+j+i发送给上位机,其中m为柜号,j为行号,i为列位置编号;(g)上位机依据获取的IP地址建立被测电子设备的测试数据库,地址设定流程结束。
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