发明名称 |
多缝滤波双缝干涉仪 |
摘要 |
本发明多缝滤波双缝干涉仪是基于对杨氏双缝干涉仪的改进,将杨氏双缝干涉仪中的单缝滤波改为多缝滤波,利用多缝将非相干光源分割成多个相互独立的相干缝光源,其中每一条缝都能独立进行双缝干涉实验;当多缝、双缝和干涉条纹位置之间满足一定的几何关系时,各个缝光源产生的双缝干涉条纹位置就会重合,获得的双缝干涉条纹衬度远高于杨氏双缝干涉条纹。本发明多缝滤波双缝干涉仪,可以使利用普通可见光源进行双缝干涉实验变得简单易行,降低双缝干涉实验的成本,还可测量材料的折射率。 |
申请公布号 |
CN101458211A |
申请公布日期 |
2009.06.17 |
申请号 |
CN200710179379.7 |
申请日期 |
2007.12.12 |
申请人 |
中国科学院高能物理研究所 |
发明人 |
黄万霞;袁清;朱佩平;吴自玉 |
分类号 |
G01N21/45(2006.01)I;G01J3/45(2006.01)I;G02B27/00(2006.01)I |
主分类号 |
G01N21/45(2006.01)I |
代理机构 |
中科专利商标代理有限责任公司 |
代理人 |
周国城 |
主权项 |
1. 一种多缝滤波双缝干涉仪,是基于对杨氏双缝干涉仪的改进,大幅度增强双缝干涉条纹衬度,其特征在于:以多缝滤波屏取代单缝滤波屏,多缝滤波屏上等间距相互平行的窄缝至少有两条;当多缝、双缝和接收屏位置之间满足一定的几何关系时,获得的双缝干涉条纹衬度远高于杨氏双缝干涉条纹衬度。 |
地址 |
100049北京市石景山区玉泉路19号乙 |