发明名称 STRUKTUREN UND ENTWURFSSTRUKTUREN MIKROELEKTROMECHANISCHER SYSTEME (MEMS)
摘要 Verfahren, aufweisend: – Bilden einer ersten Metallschicht (28) auf einer mindestens ersten Isolatorschicht (24), die ein darunter liegendes erstes Opfermaterial (18) bedeckt, das auf einem Substrat (10) gebildet wurde; – Bilden einer zweiten Isolatorschicht (30) auf der ersten Metallschicht (28); – Bilden einer zweiten Metallschicht (32) auf der zweiten Isolatorschicht (30); – Bilden einer dritten Isolatorschicht (34) auf der zweiten Metallschicht (32); – Bilden einer Maske (36) auf der dritten Isolatorschicht (34) zum Schutz von Teilen der dritten Isolatorschicht (34), der zweiten Metallschicht (32), der zweiten Isolatorschicht (30), der ersten Isolatorschicht (24) und der ersten Metallschicht (28), wobei eine Öffnung (38) in der Maske teilweise das darunter liegende erste Opfermaterial (18) überlappt; – Entfernen freiliegender Teile der ersten Isolatorschicht (24), der zweiten Isolatorschicht (30), der dritten Isolatorschicht (34), der ersten Metallschicht (28) und der zweiten Metallschicht (32) in einem einzigen Entfernungsprozess zum Bilden einer Balkenstruktur (45), umfassend verbleibende Bereiche der ersten Isolatorschicht (24), der zweiten Isolatorschicht (30), der dritten Isolatorschicht (34), der ersten Metallschicht (28) und der zweiten Metallschicht (32), und zum Freilegen des überlappten Teils des darunter liegenden ersten Opfermaterials (18); – Bilden eines zweiten Opfermaterials (44) über der Balkenstruktur (45) und in Kontakt mit dem freiliegenden Teil des darunter liegenden ersten Opfermaterials (18); – Bereitstellen einer Decklage (46) auf dem zweiten Opfermaterial (44); und – Austreiben des zweiten Opfermaterials (44) und des darunter liegenden ersten Opfermaterials (18) durch die Decklage (46), um eine obere (50a) und untere (50b) Kammer mit einer diese verbindenden Durchkontaktierung (50c) um die Balkenstruktur (45) zu bilden.
申请公布号 DE102012221818(B4) 申请公布日期 2016.07.21
申请号 DE201210221818 申请日期 2012.11.29
申请人 International Business Machines Corporation 发明人 Czabaj, Brain M.;DeMuynck, David A.;Stamper, Anthony K.
分类号 B81C1/00;B81B3/00;B81B7/02;H01H11/00 主分类号 B81C1/00
代理机构 代理人
主权项
地址