发明名称 坏点像素值的补偿方法与使用此方法的影像处理系统;METHOD FOR COMPENSATING PIXEL VALUE OF DEFECT PIXEL AND IMAGE PROCESSING SYSTEM USING THE SAME
摘要 一种坏点像素值的补偿方法,适用于补偿影像处理系统中多个坏点的像素值,本方法首先拍摄一张正常影像,而取得多个像素的像素值,并且将其中坏点的像素值标记为特定像素值,而在之后需要进行补偿时,则可藉由找出影像中的特定像素值,判断出坏点所在的位置,再计算邻近像素的像素值平均值做为这些坏点的像素值,而完成坏点像素值的补偿动作。此外,本发明还包括以相仿曝光条件关闭快门拍摄一黑画面影像,在将黑画面影像与正常影像相减后,再进行坏点像素值的补偿动作,因此可消除暗电流所造成之杂讯。
申请公布号 TWI327023 申请公布日期 2010.07.01
申请号 TW095139498 申请日期 2006.10.26
申请人 联咏科技股份有限公司 NOVATEK MICROELECTRONICS CORP. 新竹县新竹科学工业园区创新一路13号2楼 发明人 丁后君
分类号 主分类号
代理机构 代理人 詹铭文 台北市中正区罗斯福路2段100号7楼之1;萧锡清 台北市中正区罗斯福路2段100号7楼之1
主权项 1.一种坏点像素值的补偿方法,适用于补偿一影像处理系统中多个坏点的像素值,该补偿方法包括下列步骤:a.拍摄一第一影像,获得多个像素的像素值,并将该些像素中该些坏点的像素值标记为一特定像素值,其中,该多个像素中若某一像素值等于该特定像素值,则将该像素值改为其他相近的像素值;以及b.找出该特定像素值所在位置周遭的多个邻近像素,并取该些邻近像素的像素值平均值做为该些坏点的像素值。 ;2.如申请专利范围第1项所述之坏点像素资讯的补偿方法,其中该步骤a.更包括:a1.储存该第一影像于一储存单元。 ;3.如申请专利范围第2项所述之坏点像素资讯的补偿方法,其中该步骤b.包括:b1.拍摄一第二影像,获得该些像素的像素值;b2.自该储存单元存取该第一影像;b3.将该第一影像与该第二影像中各该些像素的像素值相减,获得一第三影像;以及b4.找出该第一影像中像素值为该特定像素值之该些像素,并取该第三影像中该些像素相同位置周遭之该些邻近像素的像素值平均值做为该第三影像中该些坏点的像素值。 ;4.如申请专利范围第3项所述之坏点像素资讯的补偿方法,其中该第一影像及该第二影像其中之一为该影像处理系统的快门关闭时所拍摄之一黑画面。 ;5.如申请专利范围第3项所述之坏点像素资讯的补偿方法,其中该第一影像及该第二影像在拍摄时的曝光条件相仿。 ;6.如申请专利范围第1项所述之坏点像素资讯的补偿方法,其中该特定像素值包括0及255其中之一或其他介于0至255之间的任一值。 ;7.如申请专利范围第6项所述之坏点像素资讯的补偿方法,其中当该特定像素值为255时,该步骤a.更包括:将原先像素值为255之该些像素的像素值变更为254。 ;8.如申请专利范围第6项所述之坏点像素资讯的补偿方法,其中当该特定像素值为0时,该步骤a.更包括:将原先像素值为0之该些像素的像素值变更为1。 ;9.如申请专利范围第6项所述之坏点像素资讯的补偿方法,其中当该特定像素值为其他介于0至255之间的任一值时,该步骤a.更包括:将原先像素值为该特定像素值之该些像素的像素值变更为该特定像素值相近的值。 ;10.如申请专利范围第6项所述之坏点像素资讯的补偿方法,其中当该特定像素值为255时,该步骤a.更包括:重新计算所有该些像素的像素值,而使该些像素的像素值对映落于0至254之间。 ;11.如申请专利范围第6项所述之坏点像素资讯的补偿方法,其中当该特定像素值为0时,该步骤a.更包括:重新计算所有该些像素的像素值,而使该些像素的像素值对映落于1至255之间。 ;12.如申请专利范围第1项所述之坏点像素资讯的补偿方法,其中该些邻近像素包括位于原该像素的左右、上下或上下左右的该些像素。 ;13.一种影像处理系统,包括:一影像感测器,包括多个像素,适于拍摄一第一影像;一影像讯号处理器,耦接至该影像感测器,适于接收该第一影像,而获得多个像素的像素值,并将该些像素中多个坏点的像素值标记为一特定像素值,其中,该多个像素中若某一像素值等于该特定像素值,则将该像素值改为其他相近的像素值;以及一第一储存单元,耦接至该影像讯号处理器,适于暂存该影像讯号处理器处理过后之该第一影像,其中在输出该第一影像前,该影像讯号处理器将自该第一储存单元存取先前处理之该第一影像,并找出该第一影像中该特定像素值所在位置周遭的多个邻近像素,而取该些邻近像素的像素值平均值做为该些坏点的像素值。 ;14.如申请专利范围第13项所述之影像处理系统,其中该影像讯号处理器的功能更包括自该影像感测器接收一第二影像,而获得多个像素的像素值,而由该第一储存单元中存取该第一影像,并将该第一影像与该第二影像中各该些像素的像素值相减,以获得一第三影像,然后找出该第一影像中像素值为特定像素值之该些像素,再取第三影像中该些像素相同位置周遭之该些邻近像素的像素值平均值做为该第三影像中该些坏点的像素值。 ;15.如申请专利范围第13项所述之影像处理系统,更包括:一显示单元,耦接至该影像讯号处理器,适于显示该影像讯号处理器输出之影像。 ;16.如申请专利范围第15项所述之影像处理系统,其中该显示单元包括液晶显示器(Liquid Crystal Display,LCD)及有机发光二极体(Organic Light Emitting Diode,OLED)显示器其中之一。 ;17.如申请专利范围第13项所述之影像处理系统,更包括:一镜头模组,配置在该影像感测器前端,并耦接至该影像讯号处理器,适于接收该影像讯号处理器的一控制讯号,以调整拍摄该第一影像的曝光时间。 ;18.如申请专利范围第13项所述之影像处理系统,其中该第一储存单元包括动态随机存取记忆体(Dynamic Random Access Memory,DRAM)及电子可抹除可程式化唯读记忆体(Electrically Erasable Program mable Read-Only Memory,EEPROM)其中之一。 ;19.如申请专利范围第13项所述之影像处理系统,更包括:一第二储存单元,耦接至该影像讯号处理器,适于储存该影像讯号处理器输出之影像。 ;20.如申请专利范围第19项所述之影像处理系统,其中该第二储存单元包括硬碟及快闪记忆体其中之一。;图1绘示为较佳实施例中影像处理系统。;图2绘示为较佳实施例中坏点像素值补偿方法之步骤。;图3绘示为较佳实施例中坏点像素值补偿方法之示意图。;图4绘示为另一较佳实施例中坏点像素补偿方法之步骤。;图5绘示为另一较佳实施例中坏点像素补偿方法之示意图。;图6绘示为另一较佳实施例中拍摄影像并将坏点像素值标记为特定像素值之步骤的流程。;图7绘示为另一较佳实施例中补偿影像内坏点像素值之步骤的流程。
地址 NOVATEK MICROELECTRONICS CORP. 新竹县新竹科学工业园区创新一路13号2楼