发明名称 一次掩膜光刻同时定义有机薄膜晶体管源漏栅电极的方法
摘要 本发明公开了一种有机薄膜晶体管的制备方法,利用一次掩膜光刻同时定义出有机薄膜晶体管的源漏栅电极,包括:在衬底正面形成具有透光性的有机绝缘栅介质层;用保护卡具保护有机绝缘栅介质层,腐蚀衬底的背面至介质层镂空;在有机绝缘层正面和背面涂光刻胶,从正面对光刻胶进行曝光,同时曝光背面光刻胶,在显影液中显影,形成源漏电极的正性光刻胶掩模版和栅电极的负性光刻胶掩模版;在有机绝缘介质层正面、正性光刻胶掩模版、有机绝缘介质层背面和负性光刻胶掩模版上形成金属层,剥离形成源、漏、栅电极;在有机绝缘介质层正面,源漏电极上形成有机半导体层。本发明能够与传统的硅平面工艺兼容,制备的有机薄膜晶体管器件寄生电容小高频特性好。
申请公布号 CN100585903C 申请公布日期 2010.01.27
申请号 CN200710177796.8 申请日期 2007.11.21
申请人 中国科学院微电子研究所 发明人 甄丽娟;商立伟;刘兴华;刘明
分类号 H01L51/40(2006.01)I 主分类号 H01L51/40(2006.01)I
代理机构 中科专利商标代理有限责任公司 代理人 周国城
主权项 1、一种有机薄膜晶体管的制备方法,其特征在于,该方法利用一次掩膜光刻同时定义出有机薄膜晶体管的源、漏、栅电极,具体包括以下步骤:在衬底(1)正面形成具有透光性的有机绝缘栅介质层(2);用保护卡具(7)保护有机绝缘栅介质层(2),腐蚀衬底(1)的背面至有机绝缘栅介质层(2)的背面,形成镂空的衬底,从而暴露出有机绝缘栅介质层(2)的背面;在有机绝缘栅介质层(2)正面涂正性光刻胶,背面涂负性光刻胶,从正面对光刻胶进行曝光,同时曝光背面光刻胶,在显影液中显影,形成源、漏电极的正性光刻胶掩模版(8)和栅电极的负性光刻胶掩模版(9);分别在有机绝缘栅介质层(2)正面、正性光刻胶掩模版(8)、有机绝缘栅介质层(2)背面和负性光刻胶掩模版(9)上形成金属层,然后剥离形成源(6)、漏(4)、栅(5)电极;在有机绝缘栅介质层(2)正面,源(6)、漏(4)电极上形成有机半导体层(3)。
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