发明名称 Method and apparatus for characterizing a device under test
摘要
申请公布号 GB0117765(D0) 申请公布日期 2001.09.12
申请号 GB20010017765 申请日期 2001.07.20
申请人 AGILENT TECHNOLOGIES INC 发明人
分类号 G01R27/28;G01R27/32;H04L29/14 主分类号 G01R27/28
代理机构 代理人
主权项
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