发明名称 | 用来提高晶体管沟道中的应变效应的方法和设备 | ||
摘要 | 本发明公开了一种用来提高晶体管沟道中的应变效应的方法和设备,并提供了一种具有增大应力的晶体管沟道的半导体器件。为了得到增大了应力的晶体管沟道,氮化物膜被择优地形成在器件衬底上,而在栅叠层部分上很少有或没有氮化物。氮化物膜可以被择优地仅仅淀积在硅衬底上成为不共形层,其中,很少或没有氮化物被淀积在栅叠层的上部上。氮化物膜也可以被均匀地淀积在硅衬底和栅叠层上成为共形层,而在稍后的步骤中择优地清除栅叠层上部附近的氮化物膜。在某些实施方案中,借助于清除栅叠层的上部而清除栅叠层顶部附近的氮化物。在任何方法中,借助于最小化淀积在栅叠层上的氮化物,同时保留淀积在衬底上的氮化物,增大了晶体管沟道中的应力。 | ||
申请公布号 | CN1641848A | 申请公布日期 | 2005.07.20 |
申请号 | CN200510004305.0 | 申请日期 | 2005.01.14 |
申请人 | 国际商业机器公司 | 发明人 | 杨海宁;朱慧珑 |
分类号 | H01L21/336;H01L29/78 | 主分类号 | H01L21/336 |
代理机构 | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人 | 王永刚 |
主权项 | 1.一种在具有设置在衬底上的栅叠层的半导体器件中增大应力的方法,它包含:沿衬底的表面和栅叠层淀积氮化物膜,其中的氮化物膜在衬底表面上更厚,而在栅叠层部分上更薄。 | ||
地址 | 美国纽约 |