发明名称 用来提高晶体管沟道中的应变效应的方法和设备
摘要 本发明公开了一种用来提高晶体管沟道中的应变效应的方法和设备,并提供了一种具有增大应力的晶体管沟道的半导体器件。为了得到增大了应力的晶体管沟道,氮化物膜被择优地形成在器件衬底上,而在栅叠层部分上很少有或没有氮化物。氮化物膜可以被择优地仅仅淀积在硅衬底上成为不共形层,其中,很少或没有氮化物被淀积在栅叠层的上部上。氮化物膜也可以被均匀地淀积在硅衬底和栅叠层上成为共形层,而在稍后的步骤中择优地清除栅叠层上部附近的氮化物膜。在某些实施方案中,借助于清除栅叠层的上部而清除栅叠层顶部附近的氮化物。在任何方法中,借助于最小化淀积在栅叠层上的氮化物,同时保留淀积在衬底上的氮化物,增大了晶体管沟道中的应力。
申请公布号 CN1641848A 申请公布日期 2005.07.20
申请号 CN200510004305.0 申请日期 2005.01.14
申请人 国际商业机器公司 发明人 杨海宁;朱慧珑
分类号 H01L21/336;H01L29/78 主分类号 H01L21/336
代理机构 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人 王永刚
主权项 1.一种在具有设置在衬底上的栅叠层的半导体器件中增大应力的方法,它包含:沿衬底的表面和栅叠层淀积氮化物膜,其中的氮化物膜在衬底表面上更厚,而在栅叠层部分上更薄。
地址 美国纽约