发明名称 | 光学测距的方法和装置 | ||
摘要 | 本发明涉及一种利用光学测距的方法和装置,其藉由发射一经调幅及集束的光学信号及接收从目标物反射的信号,其中调制频率由一调节回路不断地调整,以致于发出和接收到的信号之间存在了一与距离无关的固定相差,以及在保持高准确度同时,减少用于一距离评估电路的所需的电路装置以及增大可达到的调节速度,其特征在于使用一相位比较器测定相差。 | ||
申请公布号 | CN100351646C | 申请公布日期 | 2007.11.28 |
申请号 | CN03806493.6 | 申请日期 | 2003.01.21 |
申请人 | 微光测量技术有限公司 | 发明人 | P·斯波比尔 |
分类号 | G01S17/36(2006.01) | 主分类号 | G01S17/36(2006.01) |
代理机构 | 上海专利商标事务所有限公司 | 代理人 | 钱慰民 |
主权项 | 权利要求书1.一种光学测距方法,其借由发射出一经调幅及集束光学信号以及借由接收从目标物反射的信号,其中调制频率经一调节回路以在发出和接收的信号之间存在一与距离无关的固定相差的方式不断地由一压控振荡器VCO调节,其特征在于:一相位比较器以所述相位比较器只比较测得的相位是否比一为可预先确定的预期相差大或小的方式探测所产生的相差。 | ||
地址 | 德国朗根布鲁克 |