发明名称 | 一种动态补偿晶体频偏的方法及系统 | ||
摘要 | 本发明涉及一种动态补偿晶体频偏的方法,包括,在同步过程正常时,获得鉴相值正常的结果压控值,同时采集数模转换器DAC值正常的压控值,对压控值根据温度和时间分类处理;根据所述分类处理的压控值,获得晶体的温度参数和老化参数;在同步单元得不到同步信息后,利用所述温度参数和老化参数补偿所述结果压控值得到同步再生信号。本发明还提供了一种动态补偿晶体频偏的系统。采用本发明的技术方案,引入了学算法,通过CPU学每颗晶体的个体温度特性和老化特性,并对其补偿,得到了稳定再生同步信号,提高了晶体的稳定性,使得晶体的保持能力得到进一步提升。 | ||
申请公布号 | CN102857196B | 申请公布日期 | 2016.12.07 |
申请号 | CN201110179829.9 | 申请日期 | 2011.06.29 |
申请人 | 南京中兴新软件有限责任公司 | 发明人 | 崔跃;马磊 |
分类号 | H03K3/011(2006.01)I | 主分类号 | H03K3/011(2006.01)I |
代理机构 | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人 | 余刚;梁丽超 |
主权项 | 一种动态补偿晶体频偏的方法,其特征在于,包括,在同步过程正常时,获得鉴相值正常的结果压控值,同时采集数模转换器DAC值正常的压控值,对压控值根据温度和时间分类处理;根据所述分类处理的压控值,获得晶体的温度参数和老化参数;在同步单元得不到同步信息后,利用所述温度参数和老化参数补偿所述结果压控值得到同步再生信号。 | ||
地址 | 210012 江苏省南京市雨花台区紫荆花路68号 |