METHOD FOR SELECTING A WAVELENGTH, AND MICROSCOPE

摘要

Es wird ein Verfahren zur Auswahl wenigstens einer Wellenlänge (320) oder wenigstens eines Wellenlängenbereichs (206) einer zu einer Objektuntersuchung verwendeten elektromagnetischen Strahlung vorgestellt, wobei ein erstes Spektrum an einer ersten Stelle eines ersten Objekts (509) aufgenommen oder berechnet wird, ein zweites Spektrum an einer zweiten Stelle des ersten (509) oder eines zweiten Objekts aufgenommen oder berechnet wird, ein Differenzspektrum aus dem ersten und dem zweiten Spektrum gebildet wird und in dem Differenzspektrum die wenigstens eine Wellenlänge {320} oder der wenigstens eine Wellenlängenbereich (206) nach vorbestimmten Kriterien ausgewählt wird, sowie ein Mikroskop (500) mit Beleuchtungs- (502), Aufnahme- (503) und Analysemitteln (509), wobei die Beleuchtungsmittel ein Objekt (509) beleuchten und die Aufnahmemittel ein erstes Spektrum an einer ersten Stelle eines ersten Objekts aufnehmen, die Aufnahmemittel ein zweites Spektrum an einer zweiten Stelle des ersten oder eines zweiten Objekts aufnehmen, und die Analysemittel ein Differenzspektrum als Differenz des ersten und des zweiten Spektrums bilden. Die vorgestellte Erfindung ermöglicht, eine zur Objektuntersuchung optimal geeignete Wellenlänge auszuwählen.