发明名称 发光二极管面板测试系统及方法
摘要 本发明提供一种发光二极管面板测试系统,利用一计算机对与之相连的发光二极管面板进行测试,该计算机内安装有发光二极管面板测试程序,该测试程序包括:一英文/数字编排模块,用于编排英文字母和数字,以最少的英文字母和数字拼盘去涵盖所有的发光二极管;一输出/输入模块,用于输出发光二极管面板上亮灯显示的英文字母或数字并接收测试者所输入的英文字母或数字及亮灯总数;一对比模块,用于对比上述输出和输入的英文字母或数字及亮灯总数;一对比结果显示模块,用于显示发光二极管面板测试结果。本发明还提供发光二极管面板测试方法。利用本发明,可以降低测试者在测试过程中误测的几率,提高测试效益。
申请公布号 CN1904625A 申请公布日期 2007.01.31
申请号 CN200510036252.0 申请日期 2005.07.27
申请人 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司 发明人 陈维沅;范朝宗;王柏昌;张俐莹
分类号 G01R31/00(2006.01);G01R31/26(2006.01);G01R31/27(2006.01);G01M11/00(2006.01) 主分类号 G01R31/00(2006.01)
代理机构 代理人
主权项 1.一种发光二极管面板测试系统,利用一计算机对与之相连的发光二极管面板进行测试,其特征在于,该计算机内安装有发光二极管面板测试程序,该测试程序包括:一英文/数字编排模块,用于编排英文字母和数字;一输出/输入模块,用于输出发光二极管面板上亮灯所显示的英文字母或数字及亮灯总数,并接收测试者输入的英文字母或数字及亮灯总数;一对比模块,用于对比上述输出和输入的英文字母或数字及亮灯总数;一对比结果显示模块,用于显示发光二极管面板测试结果。
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