| 发明名称 | 使用存储器仿真模块的嵌入式微计算机单元及其测试方法 | ||
| 摘要 | 提供了一种利用存储器仿真模块的嵌入式微计算机单元(MCU)和一种测试该嵌入式MCU的方法。该嵌入式MCU包含：内部存储器，连接到总线主控器设备，用于存储来自总线主控器设备的临时数据和测试模式下的测试向量；存储器控制器，用于在处理器内核运行时，存取内部存储器或外部存储器；和存储器仿真模块，连接在存储器控制器与内部存储器之间，用于在测试模式下，将测试向量存储到内部存储器中。 | ||
| 申请公布号 | CN100501690C | 申请公布日期 | 2009.06.17 |
| 申请号 | CN200510003973.1 | 申请日期 | 2005.01.05 |
| 申请人 | 三星电子株式会社 | 发明人 | 朴镇权 |
| 分类号 | G06F11/26(2006.01)I | 主分类号 | G06F11/26(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人 | 邸万奎;黄小临 |
| 主权项 | 1. 一种嵌入式微计算机单元，包含：内部存储器，用于存储来自外部设备的用于测试嵌入式微计算机单元的测试向量；存储器控制器，用于控制所述内部存储器；和存储器仿真模块，连接在存储器控制器和内部存储器之间，用于在测试模式下，将测试向量存储到内部存储器中。 | ||
| 地址 | 韩国京畿道 | ||