| 发明名称 | 平铺式辐射检测器的组装方法 | ||
| 摘要 | 描述了一种平铺式检测器装置(1000)和一种制造平铺式辐射检测器(1000)的方法。这种方法的创新特征在于作为各种图像伪影起源的检测器铺瓦(304，304’)的xyz偏差可以通过所述检测器铺瓦(304，304’)的精确尺寸设定和对准而显著地减少。因此，所制造的平铺式辐射检测器的成像质量、成品率和可靠性得到了显著的提高。 | ||
| 申请公布号 | CN102216807B | 申请公布日期 | 2016.08.17 |
| 申请号 | CN200980146262.6 | 申请日期 | 2009.11.13 |
| 申请人 | 皇家飞利浦电子股份有限公司 | 发明人 | J·若里茨马;T·普尔特;G·F·C·M·利杰坦恩;J·H·M·范罗斯马伦;M·M·森斯;T·R·格罗布;M·J·F·M·特尔拉克 |
| 分类号 | G01T1/20(2006.01)I | 主分类号 | G01T1/20(2006.01)I |
| 代理机构 | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人 | 蔡洪贵 |
| 主权项 | 一种制造高能辐射或微粒的平铺式检测器装置的方法，所述平铺式检测器装置包括：检测器铺瓦(304，304’)的N×M阵列，其中，N和M是整数；闪烁器层(910)；共用基底层(604)；其中，所述检测器铺瓦(304，304')的阵列被设置在所述闪烁器层和所述基底层之间；每个检测器铺瓦(304，304')具有朝向所述闪烁器层的前侧和朝向所述基底层的背侧；所述方法包括以下步骤：将检测器铺瓦(304、304’)一个接一个地并且使它们的前侧向下地对准到对准定位器上，以形成检测器铺瓦的N×M阵列；暂时地将机械定位器附着到形成所述阵列的已对准的检测器铺瓦的背侧，其中，所述机械定位器适于对于每个检测器铺瓦单独地沿垂直方向移动；以及从所述对准定位器上移去所述检测器铺瓦的阵列；其中，相邻检测器铺瓦(304，304')的相邻前侧边缘(505，505')之间的相对高度差小于2μm。 | ||
| 地址 | 荷兰艾恩德霍芬 | ||