发明名称 | 一种金属介质膜光栅的消色差相位延迟器 | ||
摘要 | 本发明属于光学器件技术领域,涉及一种金属介质膜光栅的消色差相位延迟器,其主体结构包括自上而下的SiO<sub>2</sub>覆盖膜层和银质光栅结构,所述光栅结构上有通过蚀刻方法获得的光栅槽,该发明涉及的主要参数如下,覆盖膜层的折射率为1.46,覆盖膜层的厚度为154.2nm,光栅槽槽深为139.7nm,光栅结构的占空比为0.14,光栅结构的周期为68nm,入射角为20°‑40°,该发明在900‑1200nm波段其相位延迟量在90°的范围内最大偏差小于2.3%,该发明采用金属介质膜光栅结构,其透射率高、宽光谱、偏振性能好,适合工艺上的生产制备,性能上满足光学领域对位相延迟器的要求,其主体结构简单,安装使用方便,具有良好的市场应用前景,应用环境友好。 | ||
申请公布号 | CN106019456A | 申请公布日期 | 2016.10.12 |
申请号 | CN201610670077.9 | 申请日期 | 2016.08.15 |
申请人 | 青岛大学 | 发明人 | 孔伟金;李娜;刘涛;云茂金;季淑英 |
分类号 | G02B5/30(2006.01)I | 主分类号 | G02B5/30(2006.01)I |
代理机构 | 青岛高晓专利事务所 37104 | 代理人 | 张世功 |
主权项 | 一种金属介质膜光栅的消色差相位延迟器,其特征在于其主体结构包括:覆盖膜层、光栅结构、光栅槽和基座,SiO<sub>2</sub>材质的覆盖膜层为平面薄膜结构,覆盖膜层的厚度为154.2nm,覆盖膜层固定置于光栅结构的具有光栅槽的侧面上,覆盖膜层的折射率n=1.46;光栅结构的材质为金属银,光栅结构具有剩余厚度,能够提高光的反射率,还能够降低光栅的制备难度,光栅结构的上表面处通过蚀刻工艺制得并列式分布的光栅槽,光栅槽的深度为139.7nm;光栅结构的占空比为0.14,光栅结构的周期为68nm;SiO<sub>2</sub>材质的基座固定置于光栅结构的下表面处,支撑稳定光栅结构;该发明涉及的入射光的波长为900nm‑1200nm,入射角度为20°‑40°。 | ||
地址 | 266000 山东省青岛市崂山区香港东路7号 |