发明名称 半导体装置及其制造方法
摘要 本发明提供一种半导体装置的制造方法,其中N型MISFET及P型MISFET双方的阀值电压低,制造容易,制造成本低,制造成品率高,栅极绝缘膜的可靠性高。在硅基板(1)表面的N型MISFET形成区域(11)及P型MISFET的形成区域(12)中设置栅极绝缘膜(3),并在其上设置金属栅电极(4)及(5)。金属栅电极(4)由TiCoN膜形成,其功函数定为适用于N型MISFET的栅电极材料的4.0~4.8eV。而金属栅电极(5)是由将氧以10<SUP>13</SUP>至10<SUP>14</SUP> (个/cm<SUP>2</SUP>)的剂量离子注入到形成金属栅电极(4)的TiCoN膜中,而使功函数高出0.2至0.8eV左右的部分形成的。
申请公布号 CN1643690A 申请公布日期 2005.07.20
申请号 CN03805981.9 申请日期 2003.03.07
申请人 日本电气株式会社 发明人 吉原拓也
分类号 H01L27/092 主分类号 H01L27/092
代理机构 中科专利商标代理有限责任公司 代理人 汪惠民
主权项 1、一种半导体装置,其中具有绝缘栅极场效应晶体管,其特征在于,上述绝缘栅极场效应晶体管的栅电极是由在金属、合金或金属氮化物膜中添加了氧或氟的材料形成的。
地址 日本东京都