发明名称 |
带电粒子束装置用试样架和带电粒子束装置 |
摘要 |
在能量色散型X射线EDX分析中,由于检测器的大面积化等,产生检测的信号的峰/背比降低的问题。为了解决上述问题,在本发明中,提供一种试样架以及应用了该试样架的带电粒子束装置,试样架的特征在于,具备:主体部,其保持试样(301);试样压板部(103),其可自由装卸地设置在上述主体部,通过安装到该主体部来固定在该主体部保持的试样(301),上述试样压板部(103)具有:第一孔(107),其用于使带电粒子束(106)经过;第二孔(108),其向检测器(102)只导入从上述试样(301)产生的信号(302)中的特定的信号(303)。 |
申请公布号 |
CN106030753A |
申请公布日期 |
2016.10.12 |
申请号 |
CN201480076317.1 |
申请日期 |
2014.03.28 |
申请人 |
株式会社日立高新技术 |
发明人 |
铃木裕也;长冲功;松本弘昭 |
分类号 |
H01J37/20(2006.01)I;G01N23/225(2006.01)I;H01J37/252(2006.01)I |
主分类号 |
H01J37/20(2006.01)I |
代理机构 |
北京银龙知识产权代理有限公司 11243 |
代理人 |
范胜杰;文志 |
主权项 |
一种试样架,其是插入带电粒子束装置的试样架,该带电粒子束装置具备:带电粒子源,其产生向试样照射的带电粒子束;以及检测器,其检测通过照射该带电粒子束而从上述试样产生的信号,上述试样架的特征在于,具备:主体部,其保持上述试样;以及试样压板部,其可自由装卸地设置在上述主体部,通过将其安装到该主体部来固定该主体部保持的试样,上述试样压板部具有:第一孔,其被设置在与上述带电粒子源相对的面上,用于使上述带电粒子束通过;以及第二孔,其被设置在与上述检测器相对的面上,向上述检测器只导入从上述试样产生的信号中的特定的信号。 |
地址 |
日本东京都 |