发明名称 Elektronenstrahlprozessanordnung und Verfahren zum Kalibrieren einer Elektronenstrahlprozessanordnung
摘要 Gemäß verschiedenen Ausführungsformen kann eine Elektronenstrahlprozessanordnung (100, 400, 500, 600a, 600b) Folgendes aufweisen: eine Vakuumkammer (102), in welcher mehrere Auftreffbereiche (108a, 108b) angeordnet sind; mindestens eine Elektronenstrahlquelle, welche eingerichtet ist einen Elektronenstrahl mit mehr als 10 kW bereitzustellen; eine Ablenkanordnung (106) zum Ablenken des mindestens einen Elektronenstrahls in die mehreren Auftreffbereiche (108a, 108b); mindestens einen Elektronendetektor (110), welcher in einem Auftreffbereich (108b) der mehreren Auftreffbereiche (108a, 108b) angeordnet ist und eingerichtet ist in Antwort auf ein Bestrahlen des Elektronendetektors (110) mittels des Elektronenstrahls ein elektrisches Signal zu erzeugen, wobei das elektrische Signal mindestens einen Leistungswert des Elektronenstrahls repräsentiert; und eine Messeinheit (116), welche mit dem Elektronendetektor (110) gekoppelt ist zum Erfassen des elektrischen Signals.
申请公布号 DE102015107430(A1) 申请公布日期 2016.11.17
申请号 DE201510107430 申请日期 2015.05.12
申请人 VON ARDENNE GmbH 发明人 Faber, Jörg;Reinhold, Ekkehart
分类号 H01J37/305;C23C14/30;H01J37/20;H01J37/22;H01J37/244;H01J37/30;H01J37/34 主分类号 H01J37/305
代理机构 代理人
主权项
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