发明名称 Photogrammetrisches System und Verfahren zum Prüfen einer unzugänglichen Anlage.
摘要 Die vorliegende Erfindung betrifft photogrammetrische Systeme (100) zum Prüfen unzugänglicher Anlagen. Solche Systeme enthalten Vorrichtungen für die visuelle Ferndetektion (160) und optische Ziele an bekannten, genauen Aufstellungsorten innerhalb der Anlagen, wie etwa in Kernreaktoren. Optische Ziele enthalten vorher existierende Einrichtungen und angeordnete Gegenstände, die Kennzeichen tragen, die eine Identität des optischen Zieles vermitteln bzw. übertragen, die korreliert ist mit einer Einrichtung in der Anlage, eine Identität eines entfernten Werkzeugs (116) und/oder des bekannten Ortes innerhalb der Anlage. Die Vorrichtungen für die Fernprüfung (160) können in Verbindung mit einer Benutzerschnittstelle (154) sein, die Bedienerbefehle für das Betreiben des Werkzeugs empfängt und/oder eine Position des Werkzeugs auf der Grundlage der optischen Ziele bestimmt. Ein getrennter Prozessor kann Daten von dem optischen Ziel analysieren, das durch die Vorrichtung für die visuelle Ferndetektion (160) an einem oder mehreren Blickwinkeln detektiert worden ist, um den Ort des optischen Zieles und der Vorrichtung (160) zu bestimmen. Von diesen Bestimmungen kann ein Ort einer geprüften Einrichtung oder Werkzeugs berechnet werden. Die optischen Ziele können von der Anlage nach Beendigung der Prüfung entfernt werden.
申请公布号 CH703740(B1) 申请公布日期 2016.12.15
申请号 CH20110001437 申请日期 2011.09.01
申请人 GE-Hitachi Nuclear Energy Americas, LLC 发明人 William Dale Jones;David J. Brewer;Brendan J. Hamel;Jared A. Lathrop
分类号 G01C11/02;G21C17/003 主分类号 G01C11/02
代理机构 代理人
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