发明名称 顔特徴を測定するシステム及び方法
摘要 患者の顔特徴を測定するシステム及び方法。様々な実施形態では、システムは、幾何学的パターンを使用して、その幾何学的パターンと、患者の顔の少なくとも一部分とを含む画像の参照尺度を特定する。システムは、少なくとも部分的に、幾何学的パターン内の既知の測定値に基づいて参照尺度を特定し得る。既知の測定値は、幾何学的パターンの2つの幾何学的属性間の距離を含み得る。システムは、画像内の幾何学的パターンの向き及び/又は画像内の幾何学的パターンの歪みに起因する誤差を補正するように更に構成され得る。幾何学的パターンは、参照デバイスであって、ユーザが患者の頭部又は患者が装着した1つのアイウェアに取り付け可能であるように構成され得る参照デバイスに配置され得る。
申请公布号 JP2016530000(A) 申请公布日期 2016.09.29
申请号 JP20160534795 申请日期 2014.08.12
申请人 ブイエスピー ラブス インコーポレイテッドVSP LABS,INC. 发明人 チョレイル、サミール;ドアン、ブライアン ハン;ファム、フォン ティ スアン
分类号 A61B5/107 主分类号 A61B5/107
代理机构 代理人
主权项
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