发明名称 | 圆图型显示记录仪量程扩展方法 | ||
摘要 | 本发明涉及一种圆图型记录仪量程扩展方法,其步骤为:1.把示视刻度包括其相对应的记录纸分成低精度区和高精度区,高精度区刻度弧长大于低精度区的刻度弧长;2.和上述示视刻度相对应在测量单元中的滑线电阻盘上焊接一个点作为拐点,使滑线电阻亦分成和示视刻度相对应的低精度区和高精度区两个区域,滑线电阻始端到拐点为低精度区,拐点到滑线电阻的终端为高精度区。本发明的优点是用简单易实行的方法,对现有的圆图记录仪稍作改动,就可用于某些工艺中温度控制精度要求高的场合,实现有效的记录与控制。 | ||
申请公布号 | CN1635340A | 申请公布日期 | 2005.07.06 |
申请号 | CN200310122855.3 | 申请日期 | 2003.12.26 |
申请人 | 上海自动化仪表股份有限公司 | 发明人 | 蔡彩佩;姚载江 |
分类号 | G01D13/02;G01D11/00 | 主分类号 | G01D13/02 |
代理机构 | 上海申汇专利代理有限公司 | 代理人 | 吴宝根 |
主权项 | 1、一种圆图型记录仪量程扩展方法,其特征在于,其步骤为:(1)把示视刻度包括其相对应的记录纸分成低精度区和高精度区,高精度区刻度弧长大于低精度区的刻度弧长;(2)和上述示视刻度相对应在测量单元中的滑线电阻盘上焊接一个点作为拐点,使滑线电阻亦分成和示视刻度相对应的低精度区和高精度区两个区域,滑线电阻始端到拐点为低精度区,拐点到滑线电阻的终端为高精度区。 | ||
地址 | 200050上海市延安西路1599号怡翔大楼八楼 |