发明名称 一种增加闪锌矿结构锑化铬厚度的生长方法
摘要 本发明涉及电子学器件技术领域,利用InGaAs作为缓冲层来增加半金属铁磁体闪锌矿结构锑化铬(zb-CrSb)厚度的分子束外延生长方法。包括分子束外延生长系统、源炉温度控制系统、五种元素固体源(包括Ga、As、In、Cr、Sb)、GaAs衬底、反射式高能电子衍射枪、超导量子干涉仪(SQUID)。利用分子束外延系统生长制备zb-CrSb样品。通过SQUID测量zb-CrSb的基本磁性质。从极低温下zb-CrSb的磁滞回线得到饱和磁矩,并由此来计算zb-CrSb的厚度。
申请公布号 CN100355017C 申请公布日期 2007.12.12
申请号 CN200510072978.X 申请日期 2005.05.16
申请人 中国科学院半导体研究所 发明人 赵建华;邓加军;毕京峰;牛智川;杨富华;吴晓光;郑厚植
分类号 H01L21/00(2006.01);H01L21/20(2006.01);C04B35/622(2006.01);C01G30/00(2006.01);C01G37/00(2006.01);C23C14/00(2006.01) 主分类号 H01L21/00(2006.01)
代理机构 中科专利商标代理有限责任公司 代理人 段成云
主权项 1.一种增加闪锌矿结构锑化铬厚度的生长方法,其特征在于,该方法包括分子束外延生长系统、源炉温度控制系统、元素固体源、GaAs衬底、反射式高能电子衍射枪、超导量子干涉仪,采用分子束外延技术在GaAs衬底上生长InGaAs缓冲层,利用低温分子束外延技术在InGaAs缓冲层生长闪锌矿结构锑化铬zb-CrSb样品,采用RHEED监控zb-CrSb的生长,通过SQUID测量zb-CrSb的基本磁性质,从极低温下zb-CrSb的磁滞回线得到饱和磁矩,并由此来计算zb-CrSb的厚度。
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