发明名称 |
一种增加闪锌矿结构锑化铬厚度的生长方法 |
摘要 |
本发明涉及电子学器件技术领域,利用InGaAs作为缓冲层来增加半金属铁磁体闪锌矿结构锑化铬(zb-CrSb)厚度的分子束外延生长方法。包括分子束外延生长系统、源炉温度控制系统、五种元素固体源(包括Ga、As、In、Cr、Sb)、GaAs衬底、反射式高能电子衍射枪、超导量子干涉仪(SQUID)。利用分子束外延系统生长制备zb-CrSb样品。通过SQUID测量zb-CrSb的基本磁性质。从极低温下zb-CrSb的磁滞回线得到饱和磁矩,并由此来计算zb-CrSb的厚度。 |
申请公布号 |
CN100355017C |
申请公布日期 |
2007.12.12 |
申请号 |
CN200510072978.X |
申请日期 |
2005.05.16 |
申请人 |
中国科学院半导体研究所 |
发明人 |
赵建华;邓加军;毕京峰;牛智川;杨富华;吴晓光;郑厚植 |
分类号 |
H01L21/00(2006.01);H01L21/20(2006.01);C04B35/622(2006.01);C01G30/00(2006.01);C01G37/00(2006.01);C23C14/00(2006.01) |
主分类号 |
H01L21/00(2006.01) |
代理机构 |
中科专利商标代理有限责任公司 |
代理人 |
段成云 |
主权项 |
1.一种增加闪锌矿结构锑化铬厚度的生长方法,其特征在于,该方法包括分子束外延生长系统、源炉温度控制系统、元素固体源、GaAs衬底、反射式高能电子衍射枪、超导量子干涉仪,采用分子束外延技术在GaAs衬底上生长InGaAs缓冲层,利用低温分子束外延技术在InGaAs缓冲层生长闪锌矿结构锑化铬zb-CrSb样品,采用RHEED监控zb-CrSb的生长,通过SQUID测量zb-CrSb的基本磁性质,从极低温下zb-CrSb的磁滞回线得到饱和磁矩,并由此来计算zb-CrSb的厚度。 |
地址 |
100083北京市海淀区清华东路甲35号 |