发明名称 自适应补偿的太赫兹光梳光谱仪
摘要 本实用新型公开了一种自适应补偿的太赫兹光梳光谱仪,它包括重复频率锁定的第一光梳、第二光梳、第一分束器、第二分束器、自适应补偿模块、第一半导体天线、第二半导体天线、抛物面镜、样品、混频器及采集卡,所述第一光梳、第二光梳分别连接第一分束器、第二分束器;第一分束器一端连接自适应补偿模块、一端连接第一半导体天线;第二分束器一端连接自适应补偿模块、一端连接第二半导体天线;样品设于一对抛物面镜内并与第一半导体天线、第二半导体天线连接,第二半导体天线连接混频器,自适应补偿模块分别连接混频器及采集卡。本实用新型实现在较宽的频谱范围达到高测量精度,提高了太赫兹双光梳光谱系统的鲁棒性。
申请公布号 CN205642620U 申请公布日期 2016.10.12
申请号 CN201620424409.0 申请日期 2016.05.11
申请人 上海朗研光电科技有限公司 发明人 曾和平;段思邈;李敏
分类号 G01J3/28(2006.01)I 主分类号 G01J3/28(2006.01)I
代理机构 上海蓝迪专利商标事务所(普通合伙) 31215 代理人 徐筱梅
主权项 一种自适应补偿的太赫兹光梳光谱仪,其特征在于它包括重复频率锁定的第一光梳(1)、第二光梳(2)、第一分束器(31)、第二分束器(32)、自适应补偿模块(4)、第一半导体天线(51)、第二半导体天线(52)、一对抛物面镜(6)、样品(7)、混频器(8)及采集卡(9),所述第一光梳(1)、第二光梳(2)分别连接第一分束器(31)、第二分束器(32);第一分束器(31)一端连接自适应补偿模块(4)、一端连接第一半导体天线(51);第二分束器(31)一端连接自适应补偿模块(4)、一端连接第二半导体天线(52);样品(7)设于一对抛物面镜(6)内并与第一半导体天线(51)、第二半导体天线(52)连接,第二半导体天线(52)连接混频器(8),自适应补偿模块(4)分别连接混频器(8)及采集卡(9)。
地址 200237 上海市闵行区春申路1985弄69号2319室1区