发明名称 半导体封装件及其制法
摘要 一种半导体封装件及其制法,该半导体封装件包括:绝缘槽体,其具有相对的第一表面与第二表面,且该第一表面上具有开口;绝缘片体,其自该绝缘槽体的第一表面的边缘延伸,且该绝缘片体的厚度小于该绝缘槽体的厚度;电子元件,其设于该开口中,且该电子元件具有相对的作用侧与非作用侧;介电层,其设于该绝缘槽体的第一表面、该绝缘片体与该电子元件的作用侧上、及该开口中;以及线路层,其设于该介电层上并电性连接该电子元件。藉由该绝缘层的设计,能增加该半导体封装件的整体结构的刚性。
申请公布号 CN105702658A 申请公布日期 2016.06.22
申请号 CN201410679766.7 申请日期 2014.11.24
申请人 矽品精密工业股份有限公司 发明人 蒋静雯;邱承浩;吴政洁;陈光欣;陈贤文
分类号 H01L23/498(2006.01)I;H01L23/31(2006.01)I;H01L21/60(2006.01)I;H01L21/56(2006.01)I 主分类号 H01L23/498(2006.01)I
代理机构 北京戈程知识产权代理有限公司 11314 代理人 程伟;王锦阳
主权项 一种半导体封装件,包括:绝缘槽体,其具有相对的第一表面与第二表面,且该第一表面上具有开口;绝缘片体,其自该绝缘槽体的第一表面的边缘向外延伸,且该绝缘片体的厚度小于该绝缘槽体的厚度;电子元件,其设于该开口中,且该电子元件具有相对的作用侧与非作用侧;介电层,其形成于该绝缘槽体的第一表面、该绝缘片体与该电子元件的作用侧上、及该开口中;以及线路层,其设于该介电层上并电性连接该电子元件。
地址 中国台湾台中市
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