| 发明名称 | 探测存储电压的方法、使用该电压的显示设备及驱动方法 | ||
| 摘要 | 本发明提供一种探测存储电压的方法、使用该电压的显示设备及驱动方法。探测存储电压的方法包括施加测试电压到显示面板中的存储线，同时变化测试电压，该显示面板具有设置在存储线和数据线之间的有源层，有源层根据测试电压处于活性状态或非活性状态，并探测对应于有源层的非活性状态中的测试电压的存储电压。因此，显示面板通过使用探测的存储电压来驱动，使得开口率可以增加且电流消耗可以降低。 | ||
| 申请公布号 | CN101329373A | 申请公布日期 | 2008.12.24 |
| 申请号 | CN200810128850.4 | 申请日期 | 2008.06.20 |
| 申请人 | 三星电子株式会社 | 发明人 | 姜信宅;李奉俊;卢相龙;金宽浒;李钟焕;金宣亨 |
| 分类号 | G01R19/00(2006.01);G09G3/20(2006.01);G09G3/36(2006.01) | 主分类号 | G01R19/00(2006.01) |
| 代理机构 | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人 | 张波 |
| 主权项 | 1.一种探测存储电压的方法，该方法包括：施加测试电压到显示面板中的存储线，同时变化该测试电压，该显示面板具有设置在存储线和数据线之间的有源层，该有源层根据该测试电压而处于活性状态或非活性状态；以及探测对应于该有源层的非活性状态中的测试电压的存储电压。 | ||
| 地址 | 韩国京畿道 | ||