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Die erfindungsgemäße Testvorrichtung umfasst einen ersten Tester (11) und einen zweiten Tester (12), die jeweils wenigstens einen Prüfkontakt (111, 112; 121, 122) zur Kontaktierung wenigstens eines Außenkontakts eines elektronischen Bauteils (13-15) aufweisen sowie eine Beförderungseinrichtung, die so ausgebildet ist, dass elektronische Bauteile (13-15) derart synchronisiert zu dem ersten Tester (11) und zu dem zweiten Tester (12) beförderbar sind, dass die Außenkontakte der elektronischen Bauteile (13-15) eine elektrische Verbindung mit den Prüfkontakten (111, 112; 121, 122) bilden. Über die Prüfkontakte (111, 112; 121, 122) sind Eingangsspannungen und Eingangsströme an die elektronischen Bauteile (13-15) anlegbar und die in den elektronischen Bauteilen (13-15) herrschenden Spannungen, Ströme und Widerstände messbar. Die Tester (11, 12) überprüfen die elektronischen Bauteile (13-15) anhand einer vorbestimmten Gesamtmenge von Prüfkriterien oder anhand von Teilmengen dieser Gesamtmenge von Prüfkriterien.
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