发明名称 用于电-化学-机械抛光的方法和组合物
摘要 提供了用于硅片互连材料(例如铜)的电-化学-机械抛光(e-CMP)的方法和组合物。该方法包括与具有多种构造的垫一起使用本发明的组合物。
申请公布号 CN101119823A 申请公布日期 2008.02.06
申请号 CN200580047087.7 申请日期 2005.12.02
申请人 国际商业机器公司 发明人 P·C·安德里卡科斯;D·F·卡纳佩里;E·I·库珀;J·M·科特;H·德利吉安尼;L·埃科诺米可斯;D·C·埃德尔斯坦;S·弗朗兹;B·普拉纳萨蒂哈伦;M·克里希南;A·P·曼森;E·G·沃尔顿;A·C·韦斯特
分类号 B23H3/00(2006.01) 主分类号 B23H3/00(2006.01)
代理机构 北京市中咨律师事务所 代理人 林柏楠;刘金辉
主权项 1.用于芯片互连材料的电-化学-机械抛光(e-CMP)的组合物,包含:(i)至少一种第一组分,选自由水、至少一种有机溶剂、和它们的混合物组成的组;(ii)至少一种第二组分,选自由下列物质组成的组:无机酸和有机酸;无机酸或有机酸的中性或酸式盐,其中所述无机酸或有机酸的中性或酸式盐包含选自由钾离子、钠离子和质子化或完全氮-烷基化的胺离子、质子化或完全氮-烷基化的吖嗪离子、和质子化或完全氮-烷基化的吡咯离子组成的组的阳离子组分;和选自由钾离子、钠离子、和完全氮-烷基化的铵离子组成的组的离子的氢氧化物;(iii)至少一种第三组分,选自由阴离子表面活性剂、非离子表面活性剂、阳离子表面活性剂、和包含氮或硫的表面活性有机化合物组成的组。
地址 美国纽约