一种光电耦合器的老化试验系统及方法

摘要

本发明提供一种光电耦合器的老化试验系统及方法，其中系统包括数据获取模块、恒流源、状态监测单元和老化箱；老化箱中放置被测试的光耦组，为其提供温度；数据获取模块用于定期采集光电耦合器回路的试验电流以及其输出电压，根据试验电流以及输出电压计算光电耦合器的集电极电流和电流传输比，并在根据反馈信号确定所有光电耦合器的电流传输比达到截止条件时，停止该光耦组的测试并获取光耦组的加速老化试验过程持续时间；恒流源用于提供恒定的试验电流；状态监测单元用于实时监测被测试的光耦组的光电耦合器的电流传输比，并在监测到电流传输比达到截止条件时，向数据获取模块发送指示光电耦合器的电流传输比达到截止条件的反馈信号。

主权项

一种光电耦合器的老化试验系统，用于对包含至少一个光电耦合器的光耦组的老化过程进行测试，其特征在于，包括数据获取模块、恒流源、状态监测单元和老化箱；其中，所述老化箱中放置被测试的光耦组；所述数据获取模块用于定期采集光电耦合器回路的试验电流以及各个光电耦合器的输出电压，根据所述试验电流以及所述输出电压计算每个所述光电耦合器的集电极电流和电流传输比，并在根据状态监测单元发送的反馈信号确定所有光电耦合器的电流传输比达到截止条件时，停止该光耦组的测试并获取所述光耦组的加速老化试验过程持续时间；所述恒流源用于为所述光耦组的光电耦合器提供恒定的试验电流；所述状态监测单元用于实时监测被测试的光耦组的光电耦合器的电流传输比，并在监测到光电耦合器的电流传输比达到截止条件时，向所述数据获取模块发送指示光电耦合器的电流传输比达到截止条件的反馈信号。