发明名称 应用级联双包层光纤测量光纤非线性折射率系数装置
摘要 本发明涉及一种应用级联双包层光纤测量光纤非线性折射率系数装置,包括信号光源、泵浦光源、波分复用器、单模光纤、双包层光纤、待测光纤和光谱仪;所述信号光源和泵浦光源分别通过单模光纤跳线连接波分复用器,所述待测光纤两端连接双包层光纤的一端,所述两个双包层光纤的另一端分别连接单模光纤,所述一个单模光纤通过单模光纤跳线连接波分复用器,另一个单模光纤通过单模光纤跳线连接光谱仪。本发明具有结构简单,易于集成,测量方便,灵敏度高,成本低廉等特点,可实现对掺杂光纤非线性折射率系数的测量。
申请公布号 CN103900796B 申请公布日期 2016.11.02
申请号 CN201410107238.4 申请日期 2014.03.21
申请人 上海大学 发明人 陈娜;陈振宜;孔晓辉;石庆鹏;商亚娜;庞拂飞;王廷云
分类号 G01M11/02(2006.01)I 主分类号 G01M11/02(2006.01)I
代理机构 上海上大专利事务所(普通合伙) 31205 代理人 陆聪明
主权项 一种应用级联双包层光纤测量光纤非线性折射率系数装置,其特征在于,包括信号光源(1)、泵浦光源(2)、波分复用器(3)、单模光纤(4)、双包层光纤(5)、待测光纤(6)和光谱仪(7);所述信号光源(1)和泵浦光源(2)分别通过单模光纤跳线连接波分复用器(3),所述待测光纤(6)两端连接两个双包层光纤(5)的一端,所述两个双包层光纤(5)的另一端分别连接单模光纤(4),所述一个单模光纤(4)通过单模光纤跳线连接波分复用器(3),一个单模光纤(4)通过单模光纤跳线连接光谱仪(7)。
地址 200444 上海市宝山区上大路99号