发明名称 图像传感器测试方法和装置
摘要 本发明公开了一种光学测试装置、相关的测试方法和操作方法、以及相关联的探测卡,所述探测卡被适配来光学地测试图像传感器。光学测试装置的照射源通过探测卡向所述图像传感器提供光学测试信号。所述光学测试信号具有由在与探测卡相关联的基准图像传感器和控制单元之间形成的反馈回路而变化地限定的性质,所述控制单元连接在所述基准图像传感器和照射源之间。
申请公布号 CN101000881A 申请公布日期 2007.07.18
申请号 CN200710001658.4 申请日期 2007.01.09
申请人 三星电子株式会社 发明人 李钟文;李浚泽
分类号 H01L21/66(2006.01);G01R31/00(2006.01);G01R31/26(2006.01);G01M11/00(2006.01) 主分类号 H01L21/66(2006.01)
代理机构 北京市柳沈律师事务所 代理人 黄小临;王志森
主权项 1.一种光学测试装置,被配置来测试图像传感器,包括:照射源,被适配来产生光学测试信号,所述光学测试信号具有与控制信号相关联地变化地限定的性质;探测卡,被适配来使光学测试信号通过曝光光圈而传送到与所述探测卡相关联的晶片上形成的所选择的图像传感器,所述探测卡包括基准图像传感器,其靠近所述曝光光圈而设置,并且被适配来响应于所述光学测试信号而产生光学反馈信号;控制单元,被适配来接收该光学反馈信号,并且响应于光学反馈信号而产生控制反馈信号;以及操作单元,被适配来接收所述控制反馈信号,并且产生控制信号。
地址 韩国京畿道