| 发明名称 |
METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING THICKNESS OF MULTILAYER FILM |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPS55149005(A) |
申请公布日期 |
1980.11.20 |
| 申请号 |
JP19790057470 |
申请日期 |
1979.05.09 |
| 申请人 |
ASAHI DOW LTD |
发明人 |
YASUJIMA FUMITAKA;ISHIKAWA SHINGO |
| 分类号 |
G01B11/06;G01B15/02;G01B21/08;G01N23/06 |
主分类号 |
G01B11/06 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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