发明名称 INTERFEROMETRE A DEUX ETAGES
摘要 <P>L'INTERFEROMETRE A DEUX ETAGES DESTINE NOTAMMENT POUR DES MESURES NUMERIQUES DE LONGUEURS DANS LEQUEL UN ELEMENT DEFLECTEUR 13 EN UNE SEULE PIECE, OU COMPOSE DE PLUSIEURS PRISMES 11, 12 POUVANT ETRE AJUSTES INDIVIDUELLEMENT, EST DISPOSE A L'EXTREMITE DU DIVISEUR DE RAYONS 2 EN REGARD DES REFLECTEURS DE MESURE 6 ET DE REFERENCE 7, L'ELEMENT DEFLECTEUR 13 PRESENTANT DES SURFACES REFLECHISSANTES 14, 15 A EFFET OPTIQUE ET RENDANT PARALLELES LES FAISCEAUX LUMINEUX 4, 5 TOUT EN FORMANT DES ANGLES IDENTIQUES AVEC LE PLAN D'INTERFERENCE 3.</P>
申请公布号 FR2485718(A1) 申请公布日期 1981.12.31
申请号 FR19810011314 申请日期 1981.06.09
申请人 ZEISS JENA VEB CARL 发明人 KARLHEINZ BECHSTEIN
分类号 G01B9/02;G01B11/00;(IPC1-7):01B9/02;01B11/02 主分类号 G01B9/02
代理机构 代理人
主权项
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