发明名称 测量粗糙度的非激光核带比法
摘要 测量粗糙度的非激光“核—带比”方法。本发明属于表面粗糙度有光学测量技术。测量物体表面粗糙度的“核—带比”方法是一种新方法。本发明是将该方法中的激光光源进一步改为辉光灯、弧光灯、白炽灯、发光二极管普通非激光光源,并给出了相应公式。理论和实测表明其测量精度与用激光光源时一样,不低于现行的触针式轮廓仪。
申请公布号 CN1033689A 申请公布日期 1989.07.05
申请号 CN87101225.1 申请日期 1987.12.20
申请人 南开大学 发明人 程路
分类号 G01B11/30 主分类号 G01B11/30
代理机构 南开大学专利事务所 代理人 刘志国
主权项 一种测量物体表面粗糙度的“核-带比”方法,其特征在于采用辉光灯、弧光灯、白炽灯、发光二极管等光源作为测量光源。
地址 天津市卫津路八里台