发明名称 | 测量粗糙度的非激光核带比法 | ||
摘要 | 测量粗糙度的非激光“核—带比”方法。本发明属于表面粗糙度有光学测量技术。测量物体表面粗糙度的“核—带比”方法是一种新方法。本发明是将该方法中的激光光源进一步改为辉光灯、弧光灯、白炽灯、发光二极管普通非激光光源,并给出了相应公式。理论和实测表明其测量精度与用激光光源时一样,不低于现行的触针式轮廓仪。 | ||
申请公布号 | CN1033689A | 申请公布日期 | 1989.07.05 |
申请号 | CN87101225.1 | 申请日期 | 1987.12.20 |
申请人 | 南开大学 | 发明人 | 程路 |
分类号 | G01B11/30 | 主分类号 | G01B11/30 |
代理机构 | 南开大学专利事务所 | 代理人 | 刘志国 |
主权项 | 一种测量物体表面粗糙度的“核-带比”方法,其特征在于采用辉光灯、弧光灯、白炽灯、发光二极管等光源作为测量光源。 | ||
地址 | 天津市卫津路八里台 |