发明名称 晶圆之晶粒拾取方法
摘要 本发明提供一种可减少晶圆周边部之镜面晶粒或与镜面晶粒类似之晶粒的检知次数,可提高生产性之晶圆之晶粒拾取方法。本发明在反转范围H内检出镜面晶粒3时,系在Y方向作一间距移动,检出次列之第一晶粒2,当第一晶粒2并非镜面晶粒的场合,朝X方向之外径方向依序检出晶粒2及予拾取,当检出镜面晶粒3时,系作反转检出与上述第一晶粒2相邻之内测晶粒2,予以拾取,而后,藉由该及转之X方向的移动,依序检出晶粒及予以拾取。当上述第一晶粒为镜面晶粒3的场合,改变X方向之移动方向,依序进行检出,当非为镜面晶粒3之场合,进行拾取。
申请公布号 TW315489 申请公布日期 1997.09.11
申请号 TW085103468 申请日期 1996.03.22
申请人 新川股份有限公司 发明人 大河原雅树;青柳伸幸
分类号 H01L21/00 主分类号 H01L21/00
代理机构 代理人 林镒珠 台北巿长安东路二段一一二号九楼
主权项 1.一种将在晶圆中排列形成之复数个晶粒,以夹头一个一个予以拾取之晶圆之晶粒之拾取方法,其特征系在:由晶圆之外径设定一定之反转范围及反转晶粒数,朝拾取方向依序检出及拾取晶粒,当在上述反转范围内,当反转晶粒数检出镜面晶粒或与镜面晶粒晶类似之晶粒时,朝次一拾取的次列方向作一间距移动,检出该时之第一晶粒,当该第一晶粒并非镜面晶粒或与镜面晶粒类似之晶粒的场合,朝该列之拾取方向的外径方向依序检出及拾取晶粒,当反转晶粒数检出镜面晶粒或与镜面晶粒类似之晶粒时,系将拾取方向反转,检出与上述第一晶粒邻接之内侧晶粒并予拾取,而后再藉该反转之拾取方向的移动,依序检出及拾取晶粒,朝上述次一拾取的次列方向作一间距移动,检出上述第一晶粒,当该晶粒为镜面晶粒或与镜面晶粒类似之晶粒的场合,系改变拾取方向依序检出,当并非镜面晶粒或与镜面晶粒类似之晶粒的场合,予以拾取者。2.一种将在晶圆中排列形成之复数个晶粒,以夹头一个一个予以拾取之晶圆之晶粒之拾取方法;其特征系在:由晶圆之外径设定一定之反转范围、晶圆之外径、晶粒之拾取方向之间距及反转晶粒数,朝拾取方向依序检出及拾取晶粒,当在上述反转范围内,一反转晶粒数检出镜面晶粒或与镜面晶粒相类似之晶粒时,朝次一拾取的次列方向作一间距移动,检出该时之第一晶粒,当该第一晶粒并非镜面晶粒或与镜面晶粒类似之晶粒的场合,朝拾取方向之外径方向依序检出及拾取晶粒,当一反转晶粒数检出镜面晶粒或与镜面晶粒类似之晶粒时,反转拾取方向,检出与上述第一晶粒邻接之内侧的晶粒并予拾取,而后再藉该反转之拾取方向的移动,依序检出及拾取晶粒,朝上述次一之拾取欸列方向作一间距移动,检出上述第一晶粒,当该晶粒为镜面晶粒或与镜面晶粒类似之晶粒的场合,反转拾取方向依序作检出,当并非镜面晶粒或与镜面晶粒类似之晶粒的场合,进行拾取,在拾取方向外径大的部份,由拾取方向朝其次之拾取的次列方向,作一间距移动之条件,不拘是否为镜面晶粒或与镜面晶粒类似之晶粒,在位于一定之外径附近时,系朝次拾取之次列方向作一间距移动,又,不拘在次一拾取之次列方向移动时,其晶粒是否为镜面晶粒或与镜面晶粒类似之晶粒,将拾取方向反转,作依序检出,在并非为镜面晶粒或与镜面晶粒类似之晶粒的场合,进行拾取者。图示简单说明:图一系本发明晶圆之晶粒拾取方法的第一实施形态之平面说明图。图二系本发明晶圆之晶粒拾取方法的第二实施形态之平面说明图。
地址 日本