发明名称 数位光斑变形量系统
摘要 本发明系关于一种数位光斑变形量测系统,该量测系统由麦克森剪切机构、数位影像处理系统及照明机构组成,麦克森剪切机构由二个反射镜、二个透镜及一个立体分光镜固设于一底板上,并配合一进行取像程序之镜头,而数位影像系统由数位相机及影像处理系统组成,配合由雷射及光束放大器组成之照明机构,当照明机构照射于待量测物上时,即可藉由麦克森剪切机构进行光斑影像剪切,而依据数位剪切斑点干涉术原理计算出正确之应变量,提供一便捷精确之量测系统。
申请公布号 TW389832 申请公布日期 2000.05.11
申请号 TW088114808 申请日期 1999.08.30
申请人 陈元方 发明人 陈元方;高旭彬
分类号 G01B11/16 主分类号 G01B11/16
代理机构 代理人 林镒珠 台北巿长安东路二段一一二号九楼
主权项 1.一种「数位光斑变形量测系统」,该量测系统由麦克森剪切机构、数位影像系统及照明机构组成,麦克森剪切机构由二个反射镜、二个透镜及一个立体分光镜固设于一底板上,并配合一进行取像程序之镜头,而数位影像系统由数位相机及处理系统组成,配合由雷射及光束放大器组成之照明机构而组成一量测系统。2.如申请专利范围第1项所述「数位光斑变形量测系统」其中麦克森剪切机构之剪切量测方式,可先于平板上置一测试圆,而光源投射之白色光源另得测试圆影像,再藉由二圆之圆心位置及半径大小以测得剪切量。3.如申请专利范围第1项所述「数位光斑变形量测系统」,其中光源可为雷射光源。图式简单说明:第一图系本发明数位光斑变形量测系统之平面图。第二图系本发明以雷射光为光源得到之测试圆影像图。第三图系本发明以雷射光为光源沿箭头方向之测试圆灰阶分布图。第四图系本发明以白光为光源所得之测试圆之剪切影像图。第五图系本发明以白光为光源沿箭头方向之测试圆灰阶分布图。第六图系本发明测试圆之剪切影像示意图。第七图系本发明经中间値滤波后之测试圆影像。第八图系本发明经中间値滤波后沿箭头方向之测试圆灰阶分布图。第九图系本发明测试圆之边缘检测影像图。第十图系本发明边缘检测影像沿箭头方向之灰阶分布图。第十一图系本发明照明不均之测试圆剪切影像图。第十二图系本发明照明不均之测试圆沿箭头方向上之灰阶分布图。第十三图系本发明进行量测之光路径图。第十四图系本发明利用影像相加所得到之数位剪像图。第十五图系本发明利用影像相减所得到之数位剪像图。
地址 台南巿大学路一号(成功大学机械工程学系)