| 摘要 |
<p>L'invention concerne un système de mesure pour sélection parallèle de détecteurs SPR. L'invention vise à mettre au point un système de mesure de ce type, permettant de sélectionner une pluralité de détecteurs SPR. Le processus de sélection doit intervenir en un temps de mesure inférieur à trente minutes. A cet effet, un bloc de composants (5) à longueur d'ondes sélective et un système de représentation optique (L2, L3) sont montés en aval d'une source d'éclairage (3). Le système de représentation optique (L2, L3) se présente de manière que pour une première longueur d'ondes, un éclairage parallèle des faces d'incidence de la lumière soit assuré par des guides d'ondes (13) munis de zones de détection se prêtant à la résonance plasmonique de surface. La lumière provenant des fibres optiques (13) individuelles peut être représentée simultanément sur une puce à CCD par l'intermédiaire d'un système optique (L4), de manière que la lumière provenant de chaque fibre optique (13) individuelle, puisse être détectée par chacun des nombreux pixels à CCD adjacents de la puce à CCD (20) et que dans chaque cas, une valeur d'intensité lumineuse puisse être dérivée de ces zones de pixel, à l'aide d'un logiciel de traitement d'image. Après mémorisation de la valeur d'intensité, de la longueur d'onde ajustée et des cordonnées dans le réseau de guides d'ondes (10) au moyen d'un ordinateur (30), par l'intermédiaire d'une ligne de commande (31), il est possible d'ajuster le bloc de composants (5) à longueur d'ondes sélective à une seconde longueur d'ondes pouvant être prédéterminée librement.</p> |
