| 主权项 |
1.一种阵列装置之自动配置方法,包括下列步骤:输入该阵列装置之参数;决定配置之列数;以及产生一图式描述挡。2.如申请专利范围第1项所述之阵列装置之自动配置方法,其中输入该阵列装置之参数之步骤包括下列步骤:读入一元件宽度资料;读入一电路形态规格;读入一连线表;以及由该连线表找出最顶端之一模组。3.如申请专利范围第2项所述之阵列装置之自动配置方法,其中读入该电路形态规格之后更包括下列步骤;记录一原点座标;记录一元件长宽;以及记录一电路形态资料。4.如申请专利范围第3项所述之阵列装置之自动配置方法,其中读入该连线表之后更包括下列步骤;记录每一模组之连接埠;记录每一模组之实体元件;记录每一模组所需之面积;以及记录每一实体元件间之连线关系。5.如申请专利范围第4项所述之阵列装置之自动配置方法,其中决定配置的列数之步骤包括下列步骤:找出占最大面积之一次模组;判断是否还有次模组,当没有次模组时,则结束离开;当还有次模组时,则判断该次模组是否只占一列,当该次模组超过一列时,则回到判断是否还有次模组之步骤;以及当还有次模组且该次模组只占一列时,则将该次模组之所有实体元件放入一资料表中,然后回到判断是否还有次模组之步骤。6.如申请专利范围第5项所述之阵列装置之自动配置方法,其中产生该图式描述档之步骤包括下列步骤:将座标启始化;将一列变数启始化;判断该列变数是否大于总列数,当该列变数大于总列数时,则结束离开,当该列变数不大于总列数时,则进行下列步骤;找出一实体元件,该实体元件为该列变数所指之列之第一个;决定该实体元件占用之列数及放置方式;输出该实体元件之所有标准元件;判断该列变数所指之列是否有其他实体元件,当该列变数所指之列没有其他实体元件时,则将该列变数加一并回到判断该列变数是否大于总列数之步骤;以及当该列变数所指之列还有其他实体元件时,则找出该列变数所指之列中之下一个实体元件,并检查其连线资料,然后回到决定该实体元件占用之列数及放置方式之步骤。7.一种阵列装置之自动配置方法,用以根据一电路形态规格及一连线表产生一图式描述档,该自动配置方法包括下列步骤:根据该电路形态规格及该连线表决定该阵列装置配置之总列数;以及按照该电路形态规格将该阵列装置之中之每一标准元件之配置资料输出至该图式描述档。8.如申请专利范围第7项所述之阵列装置之自动配置方法,其中将该些标准元件之配置资料输出至该图式描述档之步骤包括下列步骤:将一列变数启始化;判断该列变数是否大于总列数,当该列变数大于总列数时,则结束离开,当该列变数不大于总列数时,则进行下列步骤;找出一实体元件,该实体元件为该列变数所指之列之第一个;决定该实体元件占用之列数及放置方式;输出该实体元件之所有标准元件;判断该列变数所指之列是否有其他实体元件,当该列变数所指之列没有其他实体元件时,则将该列变数加一并回到判断该列变数是否大于总列数之步骤;以及当该列变数所指之列还有其他实体元件时,则找出该列变数所指之列中之下一个实体元件,并检查其连线资料,然后回到决定该实体元件占用之列数及放置方式之步骤。图式简单说明:第一图是典型的FIFO记忆体的结构。第二图是第一图的FIFO记忆体的资料单元的方块图。第三图是本发明之阵列装置之自动配置方法之主流程图。第四图是第三图之输入阵列装置之参数之流程。第五图是第三图之决定配置之列数之流程图。第六图是第三图之产生图式描述档之流程。第七图是模组之阶层化架构之示意图。第八图是标准元件之大小之示意图。第九图是阵列装置的元件配置的示意图。 |
