发明名称 数据回复电路与方法
摘要 本发明提供一种数据回复电路及方法以较低功率来最小化因时脉相差所造成的错误。上述数据回复电路包括一锁相回路;一过度取样单元;一模型侦测器;一状态选择器;以及一数据选择器。上述数据回复电路具有一锁相回路用以产生复数个时脉信号,其中每一个都与一输入时脉信号同步并有一不同的延迟时间;一过度取样单元用以非整数倍数过度取样由外界输入之串列数据,作为对复数个上述时脉信号的响应,并输出过度取样结果当作由复数个位元所构成之样本数据;一模型侦测器用以接收由复数个位元所构成之上述样本数据,并经由侦测上述样本数据位元之间位准转换而产生由复数个位元所构成之模型信号;一状态累积器用以接收由复数个位元所构成之上述模型信号,并累积上述模型信号的发生频率,而且输出具有最高发生频率的上述模型信号当作由复数个位元所构成之状态信号;一状态选择器用以接收由复数个位元所构成之上述状态信号,并产生由复数个位元所构成之状态选择信号用以选择上述样本数据之中在预定位置之位元;以及一数据选择器用以接收上述样本数据,并选择上述样本数据之若干位元作为对上述状态选择信号的响应,在此上述位元相当于上述状态选择信号,而且输出所选择的位元当作由复数个位元所构成之回复数据。上述过度取样单元具有复数个取样装置,其中每一个都用以接收上述串列数据,取样上述串列数据作为对复数个上述时脉信号之每一个的响应,并且输出上述样本数据之一个位元。上述过度取样单元2.7次过度取样上述输入串列数据之每个一位元区段。根据上述数据回复电路及方法,用以回复具有相同频率之数据之一锁相回路之时脉信号被设定在一较低位准,因此功率消耗被最小化。
申请公布号 TWI236810 申请公布日期 2005.07.21
申请号 TW091115659 申请日期 2002.07.15
申请人 三星电子股份有限公司 发明人 李珍国;金容燮;李健相
分类号 H04L1/18 主分类号 H04L1/18
代理机构 代理人 詹铭文 台北市中正区罗斯福路2段100号7楼之1;萧锡清 台北市中正区罗斯福路2段100号7楼之1
主权项 1.一种数据回复电路,包含:一锁相回路,用以产生复数个时脉信号,其中每一个都与一输入时脉信号同步并有一不同的延迟时间;一过度取样单元,用以对外界输入之串列数据做一非整数倍数过度取样,以作为对复数个该些时脉信号的响应,并输出一过度取样结果当作由复数个位元所构成之一样本数据;一模型侦测器,用以接收由该些位元所构成之该该样本数据,并经由侦测该样本数据之位元之间位准转换而产生由复数个位元所构成之一模型信号;一状态累积器,用以接收由复数个位元所构成之该模型信号,并累积该模型信号的发生频率,而且输出具有最高发生频率的该模型信号,当作由复数个位元所构成之一状态信号;一状态选择器,用以接收由复数个位元所构成之该状态信号,并产生由复数个位元所构成之一状态选择信号,用以选择该样本数据之中在预定位置之位元;以及一数据选择器,用以接收该样本数据,并选择该样本数据之部分位元作为对该状态选择信号的响应,在此该些位元相当于该状态选择信号,而且输出所选择的位元当作由复数个位元所构成之回复数据。2.如申请专利范围第1项所述之数据回复电路,其中该过度取样单元包含:复数个取样装置,其中每一个都用以接收该串列数据,取样该串列数据作为对复数个该些时脉信号之每一个的响应,并且输出该样本数据之一个位元。3.如申请专利范围第1项所述之数据回复电路,其中该过度取样单元2.7次过度取样该输入串列数据之每个一位元区段。4.如申请专利范围第2项所述之数据回复电路,其中该过度取样单元具有8个取样装置。5.如申请专利范围第2项所述之数据回复电路,其中每一个取样装置取样该串列数据及反相之该串列数据,作为对该时脉信号的响应。6.如申请专利范围第1项所述之数据回复电路,其中当该输入串列数据被取样以作为对复数个该些时脉信号的响应时,由复数个位元所构成之该样本数据之每一个位元表示复数个取样状况之中一个,而该些取样状况是依照时脉信号相差的角度来区分。7.如申请专利范围第1项所述之数据回复电路,其中该模型侦测器包含:复数个"互斥或"(XOR)装置,用以对由复数个位元所构成之该样本数据之每两相邻位元作"互斥或"(XOR)运算,并输出该结果当作由复数个位元所构成之一模型侦测信号;以及复数个"及"(AND)装置,用以对由复数个位元所构成之该模型侦测信号之位元作"及"(AND)运算,其中该些位元之每一个是经由非同时产生之该样本数据之位元而产生,并输出该结果当作第一至第五模型信号。8.如申请专利范围第7项所述之数据回复电路,其中该些第一至第五模型信号用以表示复数个该些取样状况之那一个,并且当该输入串列数据被取样以作为对复数个该些时脉信号的响应时,该样本数据之每一个位元表示复数个取样状况之中一个,而该些取样状况是依照时脉信号相差的角度来区分。9.如申请专利范围第1项所述之数据回复电路,其中该状态累积器包含:复数个累积器,其中每一个累积复数个该些模型信号之中一个以作为对该输入时脉信号的响应,并且若该模型信号累积了一预定次数则以一第一逻辑位准输出该些状态信号之中一个;以及一"及"(AND)装置,用以对该些状态信号作"及"(AND)运算并产生一重置信号以重置复数个该些累积器。10.如申请专利范围第9项所述之数据回复电路,其中该状态累积器包含:一第一累积器,用以接收并累积该第一模型信号以作为对该输入时脉信号的响应,并且若该第一模型信号累积了一预定次数则以该第一逻辑位准输出该第一状态信号;一第二累积器,用以接收并累积该第二模型信号以作为对该输入时脉信号的响应,并且若该第二模型信号累积了一预定次数则以该第一逻辑位准输出该第二状态信号;一第三累积器,用以接收并累积该第三模型信号以作为对该输入时脉信号的响应,并且若该第三模型信号累积了一预定次数则以该第一逻辑位准输出该第三状态信号;一第四累积器,用以接收并累积该第四模型信号以作为对该输入时脉信号的响应,并且若该第四模型信号累积了一预定次数则以该第一逻辑位准输出该第四状态信号;一第五累积器,用以接收并累积该第五模型信号以作为对该输入时脉信号的响应,并且若该第五模型信号累积了一预定次数则以该第一逻辑位准输出该第五状态信号;一"及"(AND)装置,用以对该些第一至第五状态信号作"及"(AND)运算并产生一重置信号以重置该些第一至第五累积器。11.如申请专利范围第1项所述之数据回复电路,其中该状态选择器若该些第一至第五状态信号只有一个以该第一逻辑位准产生则设定该状态选择信号为3位元数据;若不同于前一状态信号之一状态信号以该第一逻辑位准产生一次则设定该状态选择信号为相当于前一状态信号之3位元数据;若不同于前一状态信号之新状态信号以该第一逻辑位准又产生一次则设定该状态选择信号为相当于新状态信号之3位元数据;以及若不同于前一状态信号之一状态信号以该第一逻辑位准产生一次则设定一预定中间状态来代表该状态。12.如申请专利范围第11项所述之数据回复电路,其中该状态选择器若仅该第一状态信号以该第一逻辑位准产生则设定该状态选择信号为"000";若仅该第二状态信号以该第一逻辑位准产生则为"001";若仅该第三状态信号以该第一逻辑位准产生则为"010";若仅该第四状态信号以该第一逻辑位准产生则为"011";以及若仅该第五状态信号以该第一逻辑位准产生则为"100"。13.如申请专利范围第12项所述之数据回复电路,其中该状态选择器包含:一数据储存单元,用以接收并储存相当于目前状态信号之3位元数据并输出该数据当作该状态选择信号;一状态位置储存单元,用以产生一状态位置信号来表示该预定中间状态;一编码装置,用以接收新状态信号并产生3位元数据;一比较装置,用以比较由该编码装置产生之3位元数据和从该数据储存单元输出之3位元数据,并产生一比较信号;一控制单元,用以产生一状态位置控制信号来控制该状态位置储存单元,以作为对该状态位置信号及该比较信号的响应;以及一选择装置,用以选择由该编码装置产生之3位元数据或从该数据储存单元输出之3位元数据,以作为对该状态位置信号的响应,并输出所选择之数据至数据储存单元。14.如申请专利范围第13项所述之数据回复电路,其中该控制单元包含:一第一选择装置,用以选择该状态位置信号和反相之该状态位置信号其中之一,以作为对该比较信号的响应,并输出所选择之信号;以及一第二选择装置,用以选择该第一选择装置之输出信号和反相之该状态位置信号其中之一,以作为对该状态位置信号的响应,并输出所选择之信号当作该状态位置控制信号。15.如申请专利范围第1项所述之数据回复电路,其中该数据选择器包含:复数个选择装置,用以接收由复数个位元所构成之该样本数据之m个位元(在此m是一个自然数并且不是零),并选择所接收之该样本数据之该些m个位元其中一个位元,以作为对该状态选择信号的响应,而且输出所选择之位元当作一回复数据位元。16.如申请专利范围第15项所述之数据回复电路,其中该些选择装置是复数个多工器。17.如申请专利范围第15项所述之数据回复电路,其中输入至该些选择装置之该样本数据之该些m个位元是该样本数据之3个位元。18.如申请专利范围第15项所述之数据回复电路,其中该数据选择器具有3个多工器。19.一种数据回复方法,包含下列步骤:(a)步骤,产生复数个时脉信号,其中每一个都与一输入时脉信号同步并有一不同的延迟时间;(b)步骤,非整数倍数过度取样由外界输入之串列数据,作为对复数个该些时脉信号的响应,并输出过度取样结果当作由复数个位元所构成之样本数据;(c)步骤,接收由复数个位元所构成之该样本数据,并经由侦测该样本数据位元之间位准转换而产生由复数个位元所构成之一模型信号;(d)步骤,接收由复数个位元所构成之该模型信号,并累积该模型信号的发生频率,而且输出具有最高发生频率的该模型信号当作由复数个位元所构成之一状态信号;(e)步骤,接收由复数个位元所构成之该状态信号,并产生由复数个位元所构成之一状态选择信号用以选择该样本数据之中在预定位置之位元;以及(f)步骤,接收该样本数据,并选择该样本数据之若干位元作为对该状态选择信号的响应,在此该些位元相当于该状态选择信号,而且输出所选择的位元当作由复数个位元所构成之回复数据。20.如申请专利范围第19项所述之数据回复方法,其中对于该(b)步骤2.7次过度取样该输入串列数据之每个一位元区段。21.如申请专利范围第19项所述之数据回复方法,其中当该输入串列数据被取样以作为对复数个该些时脉信号的响应时,由复数个位元所构成之该样本数据之每一个位元表示复数个取样状况之中一个,而该些取样状况是依照时脉信号相差的角度来区分。22.如申请专利范围第19项所述之数据回复方法,其中该(c)步骤包含:(c1)步骤,对由复数个位元所构成之该样本数据之每两相邻位元作"互斥或"(XOR)运算,并输出该结果当作由复数个位元所构成之一模型侦测信号;以及(c2)步骤,对由复数个位元所构成之该模型侦测信号之位元作"及"(AND)运算,其中该些位元之每一个是经由非同时产生之该样本数据之位元而产生,并输出该结果当作第一至第五模型信号。23.如申请专利范围第22项所述之数据回复方法,其中该些第一至第五模型信号用以表示复数个该些取样状况之那一个,并且当该输入串列数据被取样以作为对复数个该些时脉信号的响应时,该样本数据之每一个位元表示复数个取样状况之中一个,而该些取样状况是依照时脉信号相差的角度来区分。24.如申请专利范围第23项所述之数据回复方法,其中该(d)步骤包含:(d1)步骤,接收并累积该些第一至第五模型信号以作为对该输入时脉信号的响应;(d2)步骤,经由测定该些第一至第五模型信号之每一个是否已累积了一预定次数来侦测那一个模型信号具有最高出现频率;(d3)步骤,由该些第一至第五状态信号之中输出一状态信号当作具有该第一逻辑位准之一信号,在此该输出状态信号相当于所侦测之具有最高出现频率之模型信号;以及(d4)步骤,执行一初始化操作以接收新的第一至第五模型信号。25.如申请专利范围第19项所述之数据回复方法,其中对于该(e)步骤若该些第一至第五状态信号只有一个以该第一逻辑位准产生则设定该状态选择信号为3位元数据;若不同于前一状态信号之一状态信号以该第一逻辑位准产生一次则设定该状态选择信号为相当于前一状态信号之3位元数据;若不同于前一状态信号之新状态信号以该第一逻辑位准又产生一次则设定该状态选择信号为相当于新状态信号之3位元数据;以及若不同于前一状态信号之一状态信号以该第一逻辑位准产生一次则设定一预定中间状态来代表该状态。26.如申请专利范围第25项所述之数据回复方法,其中对于该(e)步骤若仅该第一状态信号以该第一逻辑位准产生则设定该状态选择信号为"000";若仅该第二状态信号以该第一逻辑位准产生则为"001";若仅该第三状态信号以该第一逻辑位准产生则为"010";若仅该第四状态信号以该第一逻辑位准产生则为"011";以及若仅该第五状态信号以该第一逻辑位准产生则为"100"。27.如申请专利范围第19项所述之数据回复方法,其中该(e)步骤包含:(e1)步骤,接收并储存相当于目前状态信号之3位元数据并输出该数据当作该状态选择信号;(e2)步骤,产生一状态位置信号来表示该预定中间状态;(e3)步骤,接收新状态信号并产生3位元数据;(e4)步骤,比较该新的3位元数据和该目前的3位元数据,并产生一比较信号;(e5)步骤,产生一状态位置控制信号来控制该状态位置信号,以作为对该状态位置信号及该比较信号的响应;以及(e6)步骤,选择该新的3位元数据或该目前的3位元数据,以作为对该状态位置信号的响应,并输出所选择之数据当作该状态选择信号。28.如申请专利范围第27项所述之数据回复方法,其中该(e5)步骤包含:(e51)步骤,选择该状态位置信号和反相之该状态位置信号其中之一,以作为对该比较信号的响应,并输出所选择之信号;以及(e52)步骤,选择该(e51)步骤之输出信号和反相之该状态位置信号其中之一,以作为对该状态位置信号的响应,并输出所选择之信号当作该状态位置控制信号。29.如申请专利范围第19项所述之数据回复方法,其中对于该(f)步骤,复数个选择装置用以接收由复数个位元所构成之该样本数据之m个位元(在此m是一个自然数并且不是零),并选择所接收之该样本数据之该些m个位元其中一个位元,以作为对该状态选择信号的响应,而且输出所选择之位元当作一回复数据位元。30.如申请专利范围第29项所述之数据回复方法,其中输入至该些选择装置之该样本数据之该些m个位元是该样本数据之3个位元。31.如申请专利范围第29项所述之数据回复方法,其中对于该(f)步骤,使用了3个多工器。图式简单说明:第1图是如本发明之一较佳实施例所述之数据回复电路之方块图。第2图是用以图解第1图之过度取样单元之方块图。第3图是以时脉信号相差之角度作区分之5个取样状况之示意图。第4图是用以图解第1图之模型侦测器之电路图。第5图是用以图解第4图之模型侦测器之侦测特征之表格。第6图是如第1图之状态累积器之电路图。第7图是用以图解第6图之状态累积器之操作之流程图。第8图是用以图解第1图之状态选择器之操作之状态图。第9图是如第1图之状态选择器之方块图。第10图是如第1图之数据选择器之方块图。第11图是用以图解第10图之数据选择器之操作之表格。
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