发明名称 雷射列印装置之影像校正装置与其操作方法
摘要 一种雷射列印装置之影像校正装置与其操作方法,系于将雷射/LED光束扫描技术作为感光列印之雷射列印装置中,藉备置一感测单元于雷射列印装置内、感测单元上之复数个感测器接收并转换雷射头之雷射光为复数个光电讯号、一影像处理单元接收并处理光电讯号、转化为复数个讯号条纹,经呈现于影像显示单元之讯号条纹来判断扫描光束之位置误差量等步骤,以调整雷射列印装置列印时之影像偏斜。
申请公布号 TWI247688 申请公布日期 2006.01.21
申请号 TW093137450 申请日期 2004.12.03
申请人 光宝科技股份有限公司 发明人 林勇杉
分类号 B41J2/455 主分类号 B41J2/455
代理机构 代理人 谢宗颖 台北市大安区敦化南路2段71号18楼;王云平 台北市大安区敦化南路2段71号18楼
主权项 1.一种雷射列印装置之影像校正方法,该方法步骤 包括有: 备置一感测单元于该雷射列印装置内; 发射扫描光线,系由一发光装置射向该感测单元; 接收该扫描光线,系由该感测单元上之复数个感测 器接收并转换为复数个光电讯号; 一影像处里单元接收并处理该复数个感测器之光 电讯号; 转化该复数个光电讯号为复数个讯号条纹,并显示 于一影像显示单元上; 判断该发光装置之位置与偏斜状态,以校正该发光 装置的位置。 2.如申请专利范围第1项所述之雷射列印装置之影 像校正方法,其中于该备置该感测单元之步骤中, 该感测单元系替代该雷射列印装置之一感光鼓之 位置。 3.如申请专利范围第1项所述之雷射列印装置之影 像校正方法,其中藉显示于该影像显示单元中之复 数个讯号条纹比较对齐状态来判断该发光装置之 于该雷射列印装置之偏斜状态。 4.如申请专利范围第1项所述之雷射列印装置之影 像校正方法,其中该判断该发光装置之于该雷射列 印装置之位置与偏斜状态之步骤中,系判断该复数 个感测器所侦测到的扫描光线是否对齐与是否偏 移至某一方向。 5.如申请专利范围第1项所述之雷射列印装置之影 像校正方法,其中该影像处理单元可设置于该感测 单元内,或独立设置于外。 6.如申请专利范围第1项所述之雷射列印装置之影 像校正方法,其中该发光装置为一发光二极体(LED) 。 7.如申请专利范围第1项所述之雷射列印装置之影 像校正方法,其中该发光装置为一雷射发光元件。 8.一种雷射列印装置之校正装置,该装置至少包括 有: 一感测单元,系安装于该雷射列印装置内之一感光 鼓之位置,并可接收该雷射列印装置之发光装置发 射之扫描光线; 复数个感测器,系设置于该感测单元上,接收该扫 描光线并转换为光电讯号; 一影像处理单元,系接收该复数个感测器之光电讯 号并转换成对应于该扫描光线之讯号条纹; 一影像显示单元,系显示该讯号条纹,藉以校正该 发光元件的位置。 9.如申请专利范围第8项所述之雷射列印装置之校 正装置,其中该影像处理单元可设置于该感测单元 内,或独立设置于外。 10.如申请专利范围第8项所述之雷射列印装置之校 正装置,其中藉加装复数个滤光镜于该复数个感测 器上衰减该发光元件所发出光线的能量。 11.如申请专利范围第8项所述之雷射列印装置之校 正装置,其中该发光装置为一发光二极体(LED)。 12.如申请专利范围第8项所述之雷射列印装置之校 正装置,其中该发光装置为一雷射发光元件。 图式简单说明: 第一A图系为习用技术彩色列印装置雷射列印装置 示意图; 第一B图系为习用技术列印装置雷射列印头校正方 法之装置示意图; 第二图系为习用技术雷射列印头校正装置示意图; 第三图系为本发明雷射列印装置机构示意图; 第四A图为本发明校正方法装置示意图; 第四B图为本发明校正方法之感测单元示意图; 第五图为本发明校正方法之影像处理系统示意图; 第六A图本发明校正方法之雷射光入射示意图; 第六B图本发明校正方法之雷射光入射偏斜示意图 ; 第六C图本发明校正方法之校正条纹示意图; 第七图本发明校正方法之步骤流程图。
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