发明名称 Process for making integrated bipolar transistors.
摘要 Bei einem Verfahren zum Herstellen von bipolaren Transistoren durch lonenimplantation wird insbesondere die Basiszone (32) in eine auf ein Halbleitersubstrat (10) mit Subkollektor (14) epitaktisch aufgewachsene, die Kollektorzone bildende Halbleiterschicht (18) durch eine endgültig auf der Halbleiterschicht verbleibende, eine gleichmäßige Dicke aufweisende Siliciumdioxidschicht (20) hindurch implantiert. Anschließend werden Fenster (37, 36, 35) für den Emitterkontakt, den Basiskontakt und den Kollektorkontakt in der Siliciumdioxidschicht (20) geöffnet. Die Emitterzone (42) wird dann selektiv durch das Fenster (37) für den Emitterkontakt implantiert. Abschließend wird die die Kontakte und Verbindungsleitungen bildende Metallisierung auf die Siliciumdioxidschicht (20) aufgebracht. Dieses Verfahren gewährleistet trotz direkter Implantation der Emitterzone eine gleichmäßige Dicke der die abschließende Metallisierung tragenden Isolierschicht, was zu gleichmäßigen und abschätzbaren Kapazitäten führt.
申请公布号 EP0002661(A1) 申请公布日期 1979.07.11
申请号 EP19780101265 申请日期 1978.10.31
申请人 INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION 发明人 HORNG, CHENG TZONG;MICHEL, ALWIN EARL;RUPPRECHT, HANS STEPHAN;SCHWENKER, ROBERT OTTO
分类号 H01L29/73;H01L21/033;H01L21/265;H01L21/331;H01L21/76;(IPC1-7):H01L21/82;H01L21/26 主分类号 H01L29/73
代理机构 代理人
主权项
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