发明名称 CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE AND SAMPLE OBSERVATION METHOD
摘要 본 발명은, 가스 분위기 또는 액체 상태에서의 시료를 관찰하는 기능을 구비한 하전 입자선 장치에 있어서, 건조 상태의 시료에 액체를 도입해서 침윤되어 가는 상태를 관찰하는 것, 또한 격막과 시료 사이에 여분의 액체가 도입되어 하전 입자선이 산란되는 것을 방지하는 것을 목적으로 한다. 본 발명은, 시료(6)의 하면 방향 또는 측면 방향으로부터 원하는 액체 또는 기체를 도입 또는 배출하는 도입/배출부(300)를 구비하며, 시료(6)와 격막(10)이 비접촉인 상태에서 1차 하전 입자선을 시료(6)에 조사(照射)하는 구성을 구비한다.
申请公布号 KR101675386(B1) 申请公布日期 2016.11.11
申请号 KR20147036132 申请日期 2013.07.08
申请人 가부시키가이샤 히다치 하이테크놀로지즈 发明人 오미나미 유스케;가와니시 신스케;스즈키 히로유키;호소야 고타로;후리키 마사나리
分类号 H01J37/20;H01J37/16;H01J37/18 主分类号 H01J37/20
代理机构 代理人
主权项
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