| 发明名称 |
Method and system for measuring the thermal resistance the field effect transistor power with isolated gate |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
PL223757(B1) |
申请公布日期 |
2016.10.31 |
| 申请号 |
PL20120400744 |
申请日期 |
2012.09.12 |
| 申请人 |
AKADEMIA MORSKA W GDYNI |
发明人 |
GÓRECKI KRZYSZTOF;ZARĘBSKI JANUSZ |
| 分类号 |
G01R31/26;H01L21/336;H01L21/66;H01L29/78 |
主分类号 |
G01R31/26 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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