| 发明名称 |
METHOD OF MEASURING THE FLATNESS OF UNPOLISHED SURFACES,IN PARTICULAR OF QUARTZ PLATES AND CYCLIC INTERFEROMETER THEREFOR |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
PL248807(A1) |
申请公布日期 |
1986.02.11 |
| 申请号 |
PL19840248807 |
申请日期 |
1984.07.18 |
| 申请人 |
INST TELE I RADIOTECH |
发明人 |
WEISS KRZYSZTOF;FABIJANEK ALINA;DASZKIEWICZ MAREK |
| 分类号 |
G01B;G01B9/02;G01J;(IPC1-7):G01B/;G01J/ |
主分类号 |
G01B |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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