发明名称 印刷电路功能试验系统
摘要
申请公布号 TW084645 申请公布日期 1987.02.01
申请号 TW075101420 申请日期 1986.04.01
申请人 格拉夫迪克股份有限公司 发明人 川崎电子股份有限公司
分类号 G01R31/00 主分类号 G01R31/00
代理机构 代理人 杜汉淮 台北巿吉林路二十四号九楼I室
主权项 1.一种印刷电路功能试验系统,具有以键盘之键群进行测定条件之设定,指令,及处理操作,而且设有将上述操作时检出之信号资料予以显示之显示手段之中央处埋单元(cpu ),其特征为包括:座标信号检出手段,连接于CUP上,预先在电路板上之多个测定点决定X—Y座标上之位置及位址号数以便检出测定点之座标信号;波形检出手段,连接于CPU而从CPU接受座标信号之指令,备有一循踪机构,该循踪机构驱动一个探针使其接触于X—Y座标上之对应测定点移动后,朝着垂直于该座标面位置之Z方向伸展动作,而接触于定位在该循踪机构之上侧进行实际动作之基准电路板及被检电路板之测定点,将该点之功能以类比波形信号检出;波形变换记忆手段,连接于波形检出手段,将类比波形信号予以处理以便在CPU进行监定,并且将类比波形信号变换成数位信号而暂时的储存,同时由来自CPU之条件指令信号所控制;及显示手段,由于上述波形变换记忆手段连接于CPU ,该CPU之比较器将记忆于CPU内之各基准资料及被检资料予以比较评估,而将各测定点之评估结果显示。2.如请求专利部份第1项之系统,其中,座标信号检出手段包括由矩阵察觉器所构成之座标板,及因开关之操作而产生中心轴线方向之电磁束之游标。3.如请求专利部份第1项之系统,其中,配置于座标信号检出手段之座标板上之电路板系由裸板或薄片所构成之测定点指定图。4.如请求专利部份第1项之系统,其中,设有波形检出手段之探针之循踪机构连接于CPU以使将座标指令输出信号经由X—Y—Z驱动器输入,配置于Y轴方向之轴杆由X轴马达朝X座标方向驱动,一构件由Y轴马达驱动而在该轴杆上朝Y轴方向移动,设在该构件上之探针由配置于该轴杆之连杆及电螺管所构成之驱动机构所驱动而朝着与座标两成垂直之Z轴方向移动,而接触于定位在该机构上侧之实际动作中之电路板背面之特定测定点。5.如请求专利部份第1项之系统,其中,波形变换记忆手段系由预调整器及连接于该调整器之暂态记忆所构成。6.如请求专利部份第5项之系统,其中,于预调整器中设有AC/DC切换器,调整电压位准之衰减器及放大器,该AC/DC切换器根据由键操作而选定之条件指令信号,将类比波形信号切换成直流或交流。7.如请求专利部份第5项之系统,其中,暂态记忆备有A/D变换器,IC记忆,击发产生器,抽样时钟电路,及D/A变换器,上述A/D变换器将类比信号变换成数位信号,上述IC记忆将该数位信号暂时的记忆,将经由键盘选择的设定之上述记忆之开始定时及抽样定时,经由击发产生器及抽样时钟电路传送至A/D变换器及IC记忆。8.如请求专利部份第5项或第7项之系统,其中,在IC记忆之输出端连接D/A变换器,以使将IC记忆之输出信号,以类比波形显示于阴极射管上。9.如请求专利部份第7项之系统,其中,IC记忆连接于CPU内之硬性磁碟及/或软性磁碟。10.如请求专利部份第1项之系统,其中,为了储存从IC记忆中输出之基准资料及被检资料,在CPU内设置经由I/O电路及延伸母线连接于第1 RAM及第2 RAM之IC记忆,而为了将记忆于第1 RAM及2 RAM之上述两资料比较及评估,将比较器连接于该两RAM 。11.如请求专利部份第10项之系统,其中,CPU内之比较器连接于印字机。12.如请求专利部份第9项之系统,其中,比较器经由D/A变换器连接于CRT显示手段。
地址 日本