| 摘要 |
본 발명은 전자 부품(3)이 테스트 되기 위해 존재할 수 있는 일 단부에 주입구(5); 및 주입구(5)에 위치된 셔터(7); 를 포함하는 전자 부품(3)을 테스트하기 위한 테스트 장치(1)로서, 셔터(7)는 테스트될 전자 부품(3)이 주입구(5)에 수용될 수 있는 제1 개방 위치, 및 셔터(7)가 상기 전자 부품(3)이 지지되는 네스트(9)의 주요부를 적어도 덮을 수 있는 제2 폐쇄 위치 사이에서 이동 가능하도록 구성되어서, 셔터는 전자 부품(3)에 의해서 방출된 광이 적어도 네스트(9)의 주요부에 의해서 테스트 장치(1)로부터 굴절되는 것을 방지할 수 있으며, 셔터(7)는 제1 개방 위치 및 제2 폐쇄 위치로 셔터를 미끄러지게 할 수 있는 적어도 하나의 슬라이딩 도어(15a, 15b)를 포함하며, 적어도 하나의 슬라이딩 도어(15a, 15b)는, 셔터가 제2 폐쇄 위치에 있을 때, 전자 부품(3)에 의해서 방출된 광이 통과할 수 있는 개구(11)를 정의하는 컷아웃 부분(17)을 포함하는 테스트 장치에 관한 것이다. |
